HO-SE-01 holmarc HO-SE-01 变角椭偏仪
具体成交价以合同协议为准
- 公司名称 北京思睿维科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型号 HO-SE-01
- 产地 印度
- 厂商性质 代理商
- 更新时间 2020/4/7 14:02:15
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产地类别 | 进口 | 价格区间 | 5万-10万 |
---|---|---|---|
应用领域 | 医疗卫生,生物产业 |
光谱椭偏仪广泛用于薄膜分析和测量。
holmarc HO-SE-01 变角椭偏仪结合了旋转分析仪椭偏仪技术来表征薄膜样品。它使用高速CCD阵列检测来收集整个光谱。它可以测量从纳米厚度到数十微米的薄膜,以及从透明到吸收材料的光学特性。它可以精确地测量光学常数,例如折射率,薄膜厚度和消光系数。
光谱范围:450-800nm |
探测器:线阵CCD摄像机 |
分辨率:2nm |
光源:卤素灯 |
入射角:50-75度(分辨率:0.1度,自动操作) |
厚度测量范围:0.1nm-10micron |
膜厚分辨率:0.01nm |
测得的RI分辨率:0.001 |
样品对准:半自动(光学检测),手动10mm高度调节和倾斜 |
样品台特点:X-Y平移超过150 x 150mm(可选) |
可测量的薄膜参数:折射率,消光系数,吸收系数和薄膜厚度 |
软件功能: |
采集和分析不同波长和角度下的PSI,增量和反射率 |
用户可扩展材料库 |
数据可以另存为Excel或文本文件 |
先进的数学拟合算法 |
提取厚度和光学常数 |
参数化模型 |
多层厚度测量 |
椭偏原理
椭偏法是用于薄膜分析的高度灵敏的技术。该原理依赖于从表面反射时光的偏振态的变化。
表征极化状态,对应于电磁波电场的方向;选择两个方向作为参考,p方向(平行)和s方向(垂直)。反射光具有在p方向和s方向上不同的相位变化。椭偏法测量这种极化状态;
p = rp / rs = tan Ψe iΔ
其中Ψ和Δ是振幅比和p的相移和S组分。由于椭圆偏振法正在测量两个值的比率,因此它非常准确且可重现。
特征
无损非接触技术
单层和多层样品的分析
精确测量超薄膜
测量,建模和自动操作软件
对(Ψ,Δ)的统一测量灵敏度
此款产品不用于医疗,不用于临床使用,此产品仅用于科研使用。
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