官方微信|手机版

产品展厅

产品求购企业资讯会展

发布询价单

化工仪器网>产品展厅>光学仪器及设备>光学测量仪>椭偏仪>HO-SE-01 holmarc HO-SE-01 变角椭偏仪

分享
举报 评价

HO-SE-01 holmarc HO-SE-01 变角椭偏仪

具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称 北京思睿维科技有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型号 HO-SE-01
  • 产地 印度
  • 厂商性质 代理商
  • 更新时间 2020/4/7 14:02:15
  • 访问次数 554

联系方式:李胜亮查看联系方式

联系我们时请说明是化工仪器网上看到的信息,谢谢!


1)近10年长期稳定的货源

2)以生物力学、细胞力学、细胞生物分子学、生物医学组织工程、生物材料学为主,兼顾其他相关产品线
3)提供专业产品培训和销售培训
4)良好的技术支持
5)已成交老客户考证
6)每年新增的货源。

专注力学生物学、3D细胞生物打印科研仪器的代理销售、?租赁、实验技术培训,

产地类别 进口 价格区间 5万-10万
应用领域 医疗卫生,生物产业

光谱椭偏仪广泛用于薄膜分析和测量。

holmarc HO-SE-01 变角椭偏仪结合了旋转分析仪椭偏仪技术来表征薄膜样品。它使用高速CCD阵列检测来收集整个光谱。它可以测量从纳米厚度到数十微米的薄膜,以及从透明到吸收材料的光学特性。它可以精确地测量光学常数,例如折射率,薄膜厚度和消光系数。

    光谱范围:450-800nm
    探测器:线阵CCD摄像机
    分辨率:2nm
    光源:卤素灯
    入射角:50-75度(分辨率:0.1度,自动操作)
    厚度测量范围:0.1nm-10micron
    膜厚分辨率:0.01nm
    测得的RI分辨率:0.001
    样品对准:半自动(光学检测),手动10mm高度调节和倾斜
    样品台特点:X-Y平移超过150 x 150mm(可选)
    可测量的薄膜参数:折射率,消光系数,吸收系数和薄膜厚度
    软件功能:
    采集和分析不同波长和角度下的PSI,增量和反射率
    用户可扩展材料库
    数据可以另存为Excel或文本文件
    先进的数学拟合算法
    提取厚度和光学常数
    参数化模型
    多层厚度测量

 

椭偏原理

 

椭偏法是用于薄膜分析的高度灵敏的技术。该原理依赖于从表面反射时光的偏振态的变化。

表征极化状态,对应于电磁波电场的方向;选择两个方向作为参考,p方向(平行)和s方向(垂直)。反射光具有在p方向和s方向上不同的相位变化。椭偏法测量这种极化状态;

p  =  rp / rs  =  tan Ψe 

其中ΨΔ是振幅比和p的相移和S组分。由于椭圆偏振法正在测量两个值的比率,因此它非常准确且可重现。

特征
 

    无损非接触技术

    单层和多层样品的分析

    精确测量超薄膜

    测量,建模和自动操作软件

    对(Ψ,Δ)的统一测量灵敏度

此款产品不用于医疗,不用于临床使用,此产品仅用于科研使用。



化工仪器网

采购商登录
记住账号    找回密码
没有账号?免费注册

提示

×

*您想获取产品的资料:

以上可多选,勾选其他,可自行输入要求

个人信息: