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D8 X射线衍射仪

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束蕴仪器(上海)有限公司自成立以来,凭借与德国布鲁克(BRUKER)、国际衍射数据中心(ICDD)、德国Freiberg等国际实验室分析仪器品牌的战略合作,迅速成为业界仪器供应商。

我们拥有一支积极乐观,正直诚信的年轻团队,我们热忱的信仰科学,相信科学技术能为我们的客户带来质量较高的生活,为社会的进步起到积极的促进作用。

束蕴仪器为各类客户提供完善的实验室和工业检测仪器及过程控制设备,专业的应用支持及完善的售后服务,在中国大陆的诸多领域拥有大量用户,如高校、科研院所、航空航天、国家机关、检验机构及工业企业,产品覆盖了医药、生物、材料、考古、电子、食品等各个行业。公司的宗旨:为客户量身打造适合的综合解决方案,技术支持和现场服务,系统高效的客户培训,快速及时的售后服务。

束蕴仪器,让世界更清晰!

主营仪器设备:

--高分辨X射线显微CT、多量程X射线纳米CT、X射线衍射仪、X射线荧光光谱仪、电子顺磁共振波谱仪(ESR/EPR)、台式核磁共振波谱仪 TD-NMR、光学轮廓仪等 -- 德国布鲁克Bruker 授权代理商

--PDF衍射数据库、JADE软件--国际衍射数据中心(ICDD)授权代理商

--晶圆片寿命检测仪、在线晶圆片/晶锭点扫或面扫检测、晶圆片在线面扫检测仪、台式PID潜在诱导退化测试仪、释光测定仪等--德国Freiberg Instruments授权代理商



单位名称:束蕴仪器(上海)有限公司

详细地址:上海市松江区千帆路288弄G60科创云廊3号楼602室









MicroCT,显微CT,微焦点CT,骨骼成像,显微CT材料学检测,微纳显微CT,X射线断层扫描,TOC,元素检测

应用领域 医疗卫生,环保,食品/农产品,化工,生物产业
产品:布鲁克D8达芬奇X射线衍射仪  
型号:D8Advance  
产地:德国  

布鲁克AXS公司全新的D8ADVANCEX射线衍射仪,采用创造性的达芬奇设计,通过TWIN-TWIN光路设计,成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换,而无需对光。通过革命性的TWISTTUBE技术,使用户可以在1分钟内完成从线光源应用(常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到点光源应用(织构、应力、微区)的切换,让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史!  

X射线衍射仪

高精度的测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰(注意不是一个衍射峰)的测量峰位和标准峰位的误差不超过0.01度,布鲁克AXS公司提供保证!  
*的林克斯阵列探测器可以提高强度150倍,不仅答复提高设备的使用效率,而且大幅提高了设备的探测灵敏度。

主要应用:
1、物相定性分析  
2、结晶度及非晶相含量分析  
3、结构精修及解析  
4、物相定量分析  
5、点阵参数精确测量  
6、无标样定量分析  
7、微观应变分析  
8、晶粒尺寸分析  
9、原位分析  
10、残余应力  
11、低角度介孔材料测量  
12、织构及ODF分析  
13、薄膜掠入射  
14、薄膜反射率测量  
15、小角散射
 
技术指标:  
Theta/theta立式测角仪  
2Theta角度范围:-110~168°  
角度精度:0.0001度  
Cr/Co/Cu靶,标准尺寸光管  
探测器:林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器  
仪器尺寸:1868x1300x1135mm  
重量:770kg  

TWIN / TWIN 光路
布鲁克获得专属发明的TWIN-TWIN光路设计极大地简化了D8 ADVANCE的操作,使之适用于多种应用和样品类型。为便于用户使用,该系统可在4种不同的光束几何之间进行自动切换。该系统无需人工干预,即可在Bragg-Brentano粉末衍射几何和不良形状的样品、涂层和薄膜的平行光束几何以及它们之间进行切换,且无需人工干预,是在环境下和非环境下对包括粉末、块状物体、纤维、片材和薄膜(非晶、多晶和外延)在内的所有类型的样品进行分析的理想选择。

X射线衍射仪


动态光束优化(DBO)
布鲁克独_有的DBO功能为X射线衍射的数据质量树立了全新的重要基准。马达驱动发散狭缝、防散射屏和可变探测器窗口的自动同步功能,可为您提供无可_替代的数据质量——尤其是在低2Ɵ角度时。除此之外,LYNXEYE全系列探测器均支持DBO:SSD160-2,LYNXEYE-2和LYNXEYE XE-T。

X射线衍射仪


LYNXEYE XE-T
LYNXEYE XE-T是LYNXEYE系列探测器的旗舰产品。它是目前市面上只有这一个一款可采集0D、1D和2D数据的能量色散探测器,适用于所有波长(从Cr到Ag),具有顶点的计数率和更好的角分辨率,是所有X射线衍射和散射应用的理想选择。

LYNXEYE XE-T具有优于380 eV的能量分辨率,着实出色,是市面上性能更好的荧光过滤器探测器系统。借助它,您可在零强度损失下对由激发的铁荧光进行100%过滤,而且无需金属滤波片,因此数据也不会存在伪影,如残余Kß和吸收边。同样,也无需用到会除去强度的二级单色器。

X射线衍射仪

XRPD方法:

· 鉴别晶相和非晶相,并测定样品纯度

· 对多相混合物的晶相和非晶相进行定量分析

· 微观结构分析(微晶尺寸、微应变、无序…)

· 热处理或加工制造组件产生的大量残余应力

· 织构(择优取向)分析

· 指标化、从头晶体结构测定和晶体结构精修


X射线衍射仪

对分布函数分析

对分布函数(PDF)分析是一种分析技术,它基于Bragg以及漫散射(“总散射”),提供无序材料的结构信息。其中,您可以通过Bragg衍射峰,了解材料的平均晶体结构的信息(即长程有序),通过漫散射,表征其局部结构(即短程有序)。

就分析速度、数据质量以及对非晶、弱晶型、纳米晶或纳米结构材料的分析结果而言,D8 ADVANCE和TOPAS软件替代了市面上性能更好的PDF分析解决方案:

· 相鉴定

· 结构测定和精修

· 纳米粒度和形状


X射线衍射仪

薄膜和涂层

薄膜和涂层分析采用的原理与XRPD相同,不过进一步提供了光束调节和角度操控功能。典型示例包括但不限于相鉴定、晶体质量、残余应力、织构分析、厚度测定以及组分与应变分析。在对薄膜和涂层进行分析时,着重对厚度在nm和µm之间的层状材料进行特性分析(从非晶和多晶涂层到外延生长薄膜)。

D8 ADVANCE和DIFFRAC.SUITE软件可进行以下高质量的薄膜分析:

· 掠入射衍射

· X射线反射法

· 高分辨率X射线衍射

· 倒易空间扫描

X射线衍射仪




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