TSL 武汉电子电器冷热循环冲击试验箱

一、武汉电子电器冷热循环冲击试验箱特点

  冷热冲击试验箱(三箱)的三箱设备区分为：高温区、低温区、测试区三部分，测试产品置于测试区，冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击, 测试产品为静态式。

采用触控式彩色液晶显示人机界面控制器，操作简单、学习容易。

温度控制精度高，全部采用PID自动演算控制。

冲击方式应用风路切换方式将温度导入测试区，做冷热冲击测试。

高温冲击或低温冲击时，zui大时间可达999H，zui大循环周期可达9999次。

系统可作自动循环衙擎或手动选择性冲击并可设定二区或三区冲击及冷冲热冲启始。

冷却采二元冷冻系统，降温效果快速，冷却方式为水冷式。

试料槽*静止，可由测试孔外加负载配线。

蓄热方式可避免使用职业伤害。（注：液态气体所产生发气,吸入肺部致使肺部氧气量减少,  而产生工作倦怠,集中力降低）。

 蓄热式冷热冲击不需要使用液态气体（LN2　或 LCO2）辅助降温，待测物*静止测试方式是当前电子部品测试、研究、以及半导体大量选用，可大量节省耗材测试费用，操作快捷、高信赖度，是本公司经多年研究开发的高性能试验机，为客户提供长期可靠的测试工具。

可选择始动位置，高温或低温开始循环。

具有预约起动功能。

可设定循环次数及自动除霜。

可设定循环次数及除霜次数自动（手动）除霜。运转中状态显示及曲线，异常及故障点显示说明及排除方法。

有异常或故障显示及排除方法说明。

欧美原装高效率复叠压缩冷冻机组，运转噪音低，省能源之设备

多重保护装置，有效的保障系统的安全可靠运行

二、武汉电子电器冷热循环冲击试验箱用途

主要用于测试零部件、材料结构或复合材料，在瞬间下经*温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，藉以在zui短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。

该产品即适用于质量控制的实验室，确定电工电子产品在贮存、运输和使用期间可能遇到的温度迅速变化的条件下的适应性，又可满足生产过程中筛选商用和产品。适用的对象包括金属，塑料，橡胶，电子、LED、LCD、通讯组件、汽车配件、化学材料、航天、国防工业、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料等行业，可作为其产品改进的依据或参考。

三、技术参数

规格型号   

内部尺寸  HxD(cm) 

50L:36×35×40   80L:50×40×40  100L:60×40×40   150L:60×50×50   250L:70×60×60  

外部尺寸HxD(cm) 

50L:156*175*144 80L:170*180*144 100L:180*180*144 150L:180*190*154 250L:190*200*164

温度范围：低温（C：-40；D：-55；E：-65）~高温+150℃

高温区：+60℃~+200℃

低温区：-10℃~-75℃;

升温时间(蓄热区) ：RT~200℃约需35min

降温时间(蓄冷区) ：RT~-70℃约需85min

温度恢复时间/转换时间： ≤5min内 / ≤10sec内

温度控制精度/分布精度： ±0.5℃ / ±2.0℃

内外部材质：内箱为SUS 304#不锈钢板雾面处理，外箱为冷轧钢喷塑处理或不锈钢

保温材质：耐高温高密度氯基甲酸乙醋泡沫绝缘体材料

控制器：*韩国“TEMI”  或日本“OYO”牌  

通讯功能：RS-232接口　　　

压缩机：法国"泰康"牌或德国"比泽尔"

制冷剂：美国R23和R404环保制冷剂

冷却系统：全密闭式双段压缩机(风冷式)或半密闭式双段压缩机(水冷式)

系统：P.I.D+S.S.R+微电脑平衡调温控制系统

冷凝器：不锈钢钎焊板式换热器

加热器、冷却器：镍铬合金加热器、翅片式冷却器、蓄冷器

气动气缸：高温、环境温度、低温暴露时的各个风门驱动用

冷却循环水：水压：0.2～0.4Mpa  水温≤30℃

压缩空气：0.6～0.8Mpa

四、执行与满足标准

GB/T2423.1-1989 电工电子产品基本试验规程试验A：低温试验方法

GB/T2423.2-1989电工电子产品基本试验规程试验B：高温试验方法

GJB360.7-87 温度冲击试验

SJ/T10187-91Y73 系列温度变化试验箱—箱式

GJB150.3-86     GJB150.5-86 

GJB150.4-86 电子冷热冲击试验箱，电子产品冷热冲击试验箱，电子产品冷热冲击试验机

五、安全保护装置

1、电源超载、短路保护

2、接地保护

3、超温保护

4、压缩机超压保护