EC-770 EC-770 两用涂层测厚仪

EC-770 两用涂层测厚仪内置高精密双探头，利用电磁感应和涡流效应，全自动探测基材属性，计算涂镀层厚度，并通过点阵液晶快速显示结果。同时，测量数据可分组保存，并实时显示统计值。用户可分别为每组设置上下限报警值、零校准、多点校准。全新的多点校准和零校准，让您非常方便的随时进行校准。标准化菜单，确保您非常容易的使用它。

EC-770 两用涂层测厚仪

特点：

　　A.大点阵液晶屏，标准化菜单操作;

　　B.两种测量模式：单次(Single)和连续(Continuous);

　　C.两种组模式：直接组(DIR)和通用组(GEN),一个直接组和四个通用组。直接组关机后数据自动全部

　　清除。通用组数据将自动保存，关机不丢失。每组可存储80个数据;

　　D.可零校准和多点校准(多四点)。各组有单独的零校准和多点校准，组与组之间不影响;

　　E.用户可随时查看当前工作组已测得的数据，并删除数据或整组数据;

　　F.实时显示当前工作组统计值：平均值(Mean),小值(Min)，大值(Max),标准方差(Sdev);

　　G.三种探头模式: 自动(Auto)、磁感应(Magnetic)和涡流(Eddy Current);

　　H.可为各组单独设置高低限报警值，超*屏幕指示报警;

　　I.可开启或关闭自动关机功能

　　J.USB接口可传输通用组数据到计算机