FT110 降低公司成本的一款高性能镀层测厚仪

降低公司成本的一款高性能镀层测厚仪简介：

FT-110系列镀层测厚仪通过自动定位功能，仅需把样品放​置到样品台上，就可在数秒内对样品进行自动对焦。
由此，无需进行以往的手动逐次对焦的操作，大大提高了样品测量的操作性。
近年来，随着检测零件的微小化，对微区的高精度测量的需求日益增多。
FT-110实现微区下的高灵敏度，即使在微小准直器(0.1、0.2mm)下，也能够大幅度提高膜厚测量的精度。
同时，FT-110还配备有新开发的薄膜FP法软件，即使没有厚度标准物质也可进行多达5层10元素的多镀层和合金膜的测量，可对应更广泛的应用需求。
可从大250×200mm的样品整体图像测量位置，另有机仓开放式机种，可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。

FT110XRF镀层厚度测量仪特点：

·即放即测：无需人工对焦造成误差，测量结果更可靠；
·测试速度快：3秒自动对焦，10秒钟完成50nm级极薄镀层的测量；
·无标样测量：与以往的技术相比，薄膜FP软件得到进一步扩充，即使没有标准品也能快速测量；
·多镀层测量：能够进行4层的多镀层样品测量；
·广域图像观察：能将样品图像放大5到7倍，并对测量部位快速定位；
·低成本：与以往机型相比，既提高了功能性又降低20%以上的价格。

FT110可降低成本如下：

˙节省材料费，

资源紧缺已是大势所趋，企业的材料费也是节节攀高；
尤其是表面处理工作中所用到的贵金属更是一涨再涨，比如众如周知的黄金Au已从十几年前的百余元每克上涨到三百多元，以印刷电路板厂每年产量几十万套为例，根据业界经验如果能更好控制镀层厚度，企业每年可节约上千万的费用。

˙减少工期(作业人工)

通过X射线仪来评价，管理产品可以轻松知晓产品，能发挥强大功能时的细小镀层厚度，从而避免重复电镀造成的电费和人工费的流失。

˙减少修理，修补等产生的制作费用

通过X射线仪可避免镀层不均或太薄造成的质量问题，以及后续的返工造成的费用
膜厚仪作为可靠的品管工具，可针对半导体材料、电子元器件、汽车部件等的电镀、蒸镀等的金属薄膜和组成进行测量管理，可保证产品的功能及质量，降低成本。

基本规格：

测量元素：原子序号22（Ti）~92(U)
镀层测试软件：薄膜FP法
X射线管：管电压：50KV 管电流：1mA ：薄膜检量线法
检测器：比例计数管
测量功能：自动测量、中心搜索、阶梯测量
准直器：0.1mmΦ, 0.2mmΦ
定性功能：KL标记线、对比显示
影像窗口：CCD摄像机（带倍率放大功能）
安全功能：样品门安全防护机构
X-ray Station：计算机+19英寸液晶显示器
使用电源：100~240V/15A
样品台移动量：250（X）×200（Y）mm
样品大高度：150mm

降低公司成本的一款高性能镀层测厚仪