X射线镀层测厚仪

X射线镀层测厚仪

可检测电子电镀层厚度,可测单镀层,双镀层,及多镀层。

单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等

双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等

多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等?

合金镀层：铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等

XRF-2020测试范围

金：0.02-6um

钯：0.03-6um

镍：0.5-30um

锡：0.3-50um

银：0.1-50um

铬：0.5-30um

锌：0.5-30um

锌镍合金：0.5-30um

韩国微先锋MicopioneerXRF-2020

L型XRF-2020镀层测厚仪:测量样品高3cm内,

H型XRF-2020镀层测厚仪型容纳样品10cm,长宽均为55cm

X射线镀层测厚仪:-X射线或粒子射线经物质照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析