WT2000 红外探伤仪少子寿命仪伺服系统等检测备件

■少子寿命仪 WT-2000设备升级改造  微波JMB103-O JMB103-0  皮带定制 滑块定制THK 主板 CONEC Z1118  光纤THOR TS1258778 移动电机（242238）A-MAX32+HEDS5540

■红外探伤仪 红外光源INFRALIGHT 811 451 红外相机 IRB50 IRB-55 板卡IAB1095703

■电阻率测试仪 探头KPT FT-201 202 探针23.5*0.5 16*0.5mm  

■EL、PL测试仪

■椭偏仪

■ 伺服系统 FANUC802S 802C 松下 西门子 三菱

■解决出质保期的高额维修服务费和配件费用高的问题。
■解决您维修周期长，耽误生产的问题

HS-MWR-SIM无接触少子寿命测试仪是一款功能强大的无接触少子寿命测试仪，能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、无损伤单点少子寿命测试，其通过微波光电衰退特性原理来测量非平衡载流子寿命的，并且单晶硅棒、多晶硅块无须进行特殊处理。少子寿命测试量程从0.1μs到20ms,电阻率量程为>0.1Ω.cm,,是太阳能电池硅片企业、多晶铸锭企业、拉晶企业*的测量仪器。

产品特点

■ 无接触和无损伤测量

■ 可移动扫描头，便于测量

■ 测试范围广：包括硅块、硅棒、硅片等少子寿命测量

■ 主要应用于硅棒硅块、硅片的进厂、出厂检查，生产工艺过程中重金属沾污和缺陷的监控等

■ 性价比高，*程度地降低了企业的测试成本