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化工仪器网>产品展厅>半导体行业专用仪器>其它半导体行业仪器设备>少子寿命测试仪>KDK-LT-100C 数字式硅晶体少子寿命测试仪

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KDK-LT-100C 数字式硅晶体少子寿命测试仪

具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称 山东鸿得实业有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型号 KDK-LT-100C
  • 产地
  • 厂商性质 经销商
  • 更新时间 2025/5/27 17:11:09
  • 访问次数 1710

联系方式:周经理查看联系方式

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是一家集研、生产、销、服务于一体的企业。在国内设有多个办事处。

 

山东鸿得实业有限公司是高科技产品系统集成商。大量引进国外各种*在线、离线仪器仪表、机械设备与材料,为各行业用户提供了大量的产品和服务,尤其在冶金煤矿、石油、化工、环保、电子、机械、光学、通讯、科研及大专院校、医疗卫生等领域,与世界众多较有名专业厂家有密切合作关系
山东鸿得实业有限公司为各大企业提供了许多*产品和优质服务。

 

公司坚持以用户至上信誉永恒为宗旨。产品出厂一年内免费维修,终身保护。严格的技术要求,稳定的产品质量是我厂发展生存的希望,我们希望广大科研工程技术人员对精诚产品提出更合理、更完善的建议,也希望我们共同研制开发,共创未来

 

 

仪器仪表

·数字式硅晶体少子寿命测试仪

型号:KDK-LT-100C

为解决太阳能单晶、多晶少子寿命测量,特按照国标GB/T1553及SEMI MF-1535用高频光电导法研制出了数字式少子寿命测试仪。

该设备是按照国家标准GB/T1553“硅单晶少数载流子寿命测定的高频光电导衰减法”设计制造。高频光电导衰减法在我国半导体集成电路、晶体管、整流器件、核探测器行业已运用了三十多年,积累了丰富的使用经验,经过数次全国十多个单位巡回测试的考验,证明是一种成熟可靠的测试方法,特别适合于硅块、硅棒研磨面的少子体寿命测量;也可对硅片进行测量,给出相对寿命值。方法本身对样品表面的要求为研磨面,制样简便。

 

KDK-LT-100C数字式硅晶体少子寿命测试仪有以下特点:

1、 可测量太阳能级多晶硅块、单晶硅棒少数载流子体寿命。表面无需抛光,直接对切割面或研磨面进行测量。同时可测量多晶硅检验棒及集成电路、整流器、晶体管级硅单晶的少子寿命。

2、  可测量太阳能级单晶及多晶硅片少数载流子的相对寿命,表面无需抛光、钝化。

3、配备软件的数字示波器,液晶屏上直接显示少子寿命值,同时显示动态光电导衰退波形,并可联用打印机及计算机。

4、配置两种波长的红外光源:

a、红外光源,光穿透硅晶体深度较深≥500μm,有利于准确测量晶体少数载流子体寿命。

b、短波长红外脉冲激光器,光穿透硅晶体深度较浅≈30μm,但光强较强,有利于测量低阻太阳能级硅晶体。

5、测量范围宽广

测试仪可直接测量:

a、研磨或切割面:电阻率≥0.3Ω•㎝的单晶硅棒、定向结晶多晶硅块少子体寿命,切割片的少子相对寿命。

b、抛光面:电阻率在0.3~0.01Ω•㎝范围内的硅单晶、锗单晶抛光片。

寿命可测范围     0.25μS—10ms

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 



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