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化工仪器网>产品展厅>光学仪器及设备>电子显微镜>聚焦离子束显微镜(FIB)>MI4050 FIB聚焦离子束

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MI4050 FIB聚焦离子束

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似空科学仪器(上海)有限公司是一家仪器设备的经销商。我们致力于为中国制造业和研发机构提供高精度、符合人体工学设计的仪器设备。我们也梦想有朝一日,能够充分掌握市场需求,深刻理解仪器设备的技术原理,聚集一批有激情、有理想、有技术的人,为中国的制造业升级以及中国科研走向世界,提供自有知识产权的先进仪器设备!
仪器设备发展的是探测手段和传感器不对被测目标产生任何干扰,企业管理的是一切以市场为核心,不以自我的意愿抗拒市场的趋势,代替客户的喜好,于是我们取名“似空”,希望以忘我的精神服务客户。

 

失效分析,芯片开封,表面观测,金相研磨,光学及视频显微镜,超声波检测,X射线检测,激光微纳加工等

产地类别 进口 价格区间 面议
应用领域 电子
  日立新型FIB…智能聚焦离子束系统 IM4050
 
  自1986年以来,通过多年的fIB经验,MI 4050被赋予了高度稳定的离子源,所建立的离子光学使锐利的光束剖面和高束电流能够成像各种功能。 DED功能涵盖对FIB的广泛需求,如气体化学MI 4050可以帮助您推进您的研究和开发。
 
  MI 4050特征
 
  经过验证的聚焦离子束技术既能实现高分辨率、高对比度的SIM成像,又能快速、大面积FIB铣削。
 
  良好的梁稳定性,级精度和控制软件允许高精度的自动铣削加工。
 
  微采样系统和低压FIB能力支持现场高质量TEM样品制备。
 
  ​
 
  大电流FIB使铣削面积更大,材料更坚硬,并且比以往任何时候都更高的吞吐量。高通量离子研磨有助于减少像树脂emb这样的样品准备步骤。 编辑和机械抛光。此外,也可以避免因抛光而产生的样品应变或分层。
 
  大电流为90 nA的高性能FIB
 
高分辨率、高对比度SIM成像。
 
  保证了4nm的高分辨率。高对比度SIM从低放大率成像到高放大率。
 
自动切割的三维结构分析
 
用微取样法制备现场高质量TEM样品
 
  微取样系统
 
       主要特点:
 
  1.高效率、高质量加工,二次离子分辨率:4nm@30kV
 
  2.高分辨、高衬度SIM成像
 
  3.全自动TEM样品制备
 
  4.大尺寸样品加工
 
  应用领域:
 
  1.纳米材料微加工
 
  2.半导体及电子元器件材料
 
  3.生命科学


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