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德国菲希尔XDL X-RAY光谱膜厚仪

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膜厚仪

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深圳德谱仪器有限公司总部位于风景秀丽的深圳市大前海金融中心区的高新奇战略新兴产业区及生产基地设立于上海,在沈阳、成都、武汉、杭州、厦门、昆明、广州、东莞等城市设有分支机构;是一家以光谱(XRF)、色谱、质谱产品为核心的研发、生产和销售的高科技企业;旗下拥有深圳市盛旺达仪器设备有限公司和深圳市德泽威检测技术有限公司两家全资子公司,同时控股着香港松盛电子有限公司和深圳龙岗万达工业园。

 

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德国菲希尔XDL X-RAY光谱膜厚仪,是发展继承其前身FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B系列,其非破坏式的测量,特别适合五金的金属镀层厚度,测量快速、精确、无损.如一些五金零件、电路板及测量电镀槽中的金离子的含量。德国菲希尔XDL X-RAY光谱膜厚仪,采用了高次数率的比例接收器,可以在没有标准片的情况下,对金属五金件的镀层厚度及电镀液中的离子含量做出精确的测量,另外在WINFTM BASIC 软件的支持下,可测量多至24元素,这是其他品牌所不能的。菲希尔XDL X-RAY光谱膜厚仪的*稳定性是十分高的,这使仪器减少校正所需要的时间及次数,便于管理仪器,并提高生产效率.应用范围广泛,包括了测量大量的电镀五金件、检查薄膜层(如:装饰性铬的镀层)、在电子及半导体行业中分析其功能性的镀层、可用于电路板测量、电镀槽中的药水成份分析,已成为被广泛应用的自动测定涂镀层厚度的仪器。



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