TEM透射电镜

 TEM透射电镜是一个真正多功能，多用户环境的*仪器。它将各种透射电镜技术(包括TEM、HRTEM、STEM、电子衍射、EDX透镜等)一体化，形成强大的分析功能。除了具有200kV的各种优点外，Tecnai G2F30提供了300kV的加速电压，可分析更厚、更具挑战性的样品。Tecnai G2F30可以在原子尺度的分辨率下对材料进行高质量、高稳定性的显微形貌、晶体结构和相组织的观察与分析，及各种材料微区化学成分的定性和定量检测。

TEM透射电镜主要技术指标：

加速电压：300KV                    

电子枪：  肖特基场发射电子枪

分辨率：  点分辨率：0.205 nm

　　　　线分辨率：0.102 nm        

               信息分辨率：0.14nm    

               HR STEM分辨率：0.16nm

              EDX分辨率：136eV                    

放大倍数：TEM 模式  60X—1000KX

         HAADF STEM模式  200X—100M    

    应用领域：

　　　主要用于生物体、高分子和无机非金属材料等样品的内部亚显微结构观察。广泛应用于生物、能源、半导体、高分子、陶瓷、纳米材料、化工、机电、环境、制药等研究领域。