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飞驰(北京)科学仪器有限公司

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LT3600智能激光粒度仪

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真理光学仪器有限公司专注于Gao端颗粒表征仪器的研发和制造,产品涵盖激光(衍射法)粒度分析仪、动态光散射纳米粒度及Zeta电位分析仪以及颗粒图像分析仪,既有实验室仪器,又有在线检测系统。真理光学秉持“科学态度,工匠精神”,为用户提供世界Xian进的Gao端产品和服务。

真理光学汇集了以张福根博士为代表的全国颗粒表征领域的顶尖人才。张福根博士现任本公司董事长兼首Xi科学家,还担任全国颗粒表征及分检与筛网标准化技术委员会副主任委员、天津大学兼职教授,曾担任中国颗粒学会副理事长,同时也是“欧美克”字号公司的创始人。曾担任英国某粒度仪器公司中国总经理20余年的秦和义先生担任本公司商务总经理,中国颗粒学会青年理事潘林超博士、陈进博士担纲公司的研发主力。

激光(衍射法)粒度仪虽然已得到广泛应用,但它并不Wan美,不论是科学基础方面,还是技术方案方面。真理光学的团队针对当前市面上仪器存在的不足,展开了系统的理论研究和技术创新,发现了衍射光斑(爱里斑)的反常变化现象(ACAD),解释了为什么不能测量3μm左右的聚苯乙烯微球,并给出了反常区(不能测量粒径)的一般公式;研究了衍射仪器的测量上限和下限;研究了颗粒折射率偏差对测量结果的影响,发明了两种根据散射光分布估算颗粒折射率的方法;提出了斜置梯形窗口技术方案(Zhuan利),解决了前向超大角测量盲区的问题,使衍射仪器的亚微米颗粒测量水平显著提高;提出了统一的反演算法(专有技术),消除了不同计算模式给出不同结果的尴尬;设计出了高达20Kfps的超高速并行数据采样电路,使干法测量的精度不亚于湿法测量,对高速喷雾场的测量(时间)分辨率也更高。

在纳米粒度及Zeta电位仪方面,真理光学提出了比相位分析法(PALS)更先进的余弦拟合相位分析法(CF-PALS),用光纤分束取代了传统的平板分束镜分束,用光纤内光干涉取代了自由空间干涉,使Zeta电位的测量重复性大幅度提高。

Linkoptik Instruments specializes in the development and manufacture of high-end particle characterization instruments, including laser (diffraction) particle size analyzers, dynamic light scattering nano particle size and zeta potential analyzers, and particle image analyzers, both laboratory instruments and online inspection systems. Linkoptik Instruments upholds the "scientific attitude and craftsmanship" to provide customers with the world's advanced high-end products and services.

Linkoptik Instruments has gathered the top talents in the field of particle characterization in China, represented by Dr. Fugen Zhang. Dr. Zhang is the Chairman and Chief Scientist of our company, and is also the Vice Chairman of the National Technical Committee for Particle Characterization and Sieving and Sieve Standardization, a part-time professor of Tianjin University, and the Vice Chairman of the Chinese Particle Society. Mr. Qin He Yi, who was the general manager of a particle size instrument company in China for more than 20 years, is the commercial general manager of the company, and Dr. Pan Linchao and Dr. Chen Jin, the young directors of the Chinese Particle Society, are the main R&D team of the company.

Although laser (diffraction) particle size measurement has been widely used, it is not perfect, both in terms of scientific basis and technical solutions. The team at Truth Optics has conducted systematic theoretical research and technological innovation to address the shortcomings of the current instruments on the market, discovered the phenomenon of anomalous variation of diffraction spot (Airy spot) (ACAD), explained why polystyrene microspheres around 3 μm cannot be measured, and gave a general formula for the anomalous zone (not measuring particle size); studied the upper and lower measurement limits of diffraction instruments; studied the effect of particle The influence of refractive index deviation on the measurement results was studied, and two methods for estimating the refractive index of particles based on the scattered light distribution were invented; an oblique trapezoidal window technical solution (patented) was proposed, which solved the problem of the blind area of the forward oversized angle measurement and significantly improved the submicron particle measurement level of the diffraction instrument; a unified inversion algorithm (proprietary technology) was proposed, which eliminated the embarrassment of different calculation modes giving different results; the design of The ultra-high speed parallel data sampling circuit of up to 20Kfps has been designed, which makes the accuracy of dry measurement no less than that of wet measurement, and the measurement (time) resolution of high-speed spray field is also higher.

In nanometer particle size and zeta potential measurement, Linkoptik Instruments has proposed a more advanced cosine fitted phase analysis method (CF-PALS) than PALS, replacing the traditional flat beam splitter mirror beam splitting with fiber optic beam splitting, and replacing free space interference with optical interference inside the fiber, which has greatly improved the repeatability of zeta potential measurement.

 

 

专注于颗粒(包含粉体颗粒、乳胶颗粒和液体雾滴)测试技术的研发和仪器的生产销售

  粒度测试仪是真理光学技术团队基于二十多年粒度表征和应用经验开发的新一代粒度分析系统,该系统加持多项创新技术和,测量速度高达每秒20000次,而且Hydrolink分散进样器更是采用了双电机驱动,内置高效率超声,强力搅拌和离心循环泵分开独立控制,适用于各种类型的复杂样品,对于密度大和分布宽的金属粉末和硬质合金等样品,也能轻松分散和进样并获得可靠的高重现性结果。
 
  粒度测试仪功能说明:
 
  1、功能强大的软件系统
 
  粒度测试仪是集光、机、电、计算机为一体的高科技产品,数据处理有的计算机分析系统软件完成,同时由打印机完成测试报告的输出。
 
  2、*的光路一体化技术的光学变换设计,结合*的光路一体化结构,使光路更加稳定;使用,无须调整。的机械设计与加工工艺,使仪器的结构更紧凑合理,流线型的设计,美观大方,使用与维护更为方便;有效的屏蔽与抗干扰技术使仪器的电气等性能更加稳定。
 
  3、粒度测试仪仪*的光电接收器阵列设计,有效提高了仪器的分辨率。其中,主向光电接收器,共有71个光电池,大探测角达21.5°;非均匀交叉排列的侧向及后向光电接收器,共9个光电池大后向探测角度达135°,使测试下线到0.04mm。
 
  4、耐用
 
  采用波长635nm,功率3mw半导全激光器,使用寿命在25000个小时以上有效提高了激光粒度分布仪的使用和存放时间。
 
  5、的H.Golub分布反演算法
 
  粒度测试仪采用的全Mie散射理论作为基础,并采用优良的H.Golub分布反演算法,结合*的仪器硬件设计,使您测试的样品无论是单分布的,还是混合的,都能够使测试数据更加、快捷。
 
  粒度测试仪具有以下优势:
 
  1、符合ISO13320衍射法测量技术标准;
 
  2、*的光路配置,超大连续的物理测量角度,无检测盲区;
 
  3、改进型反演算法,用户无需选择“分析模式”,兼顾的分辨率和稳定性;
 
  4、无需更换透镜,无需使用标准样校准,量程范围达到0.02微米至3600微米;
 
  5、采用全息信号同步处理技术,实时测量速度高达每秒20000次,不漏检任何形状和分布颗粒的衍射信息;
 
  6、采用自动温度恒定技术的超高稳定固体激光光源系统,克服了氦氖气体激光器预热时间;
 
  7、采用偏振空间滤波技术,摒弃导致机械和热稳定性差的针孔滤波器;
 
  8、金属拉丝外壳设计,兼顾耐用性和提高仪器的抗干扰能力。
 
  粒度测试仪厂家概述:
 
  珠海真理光学仪器有限公司专注于颗粒表征和分析仪器的研发和生产,公司聚集了多位在颗粒学和粉体技术领域具有丰富经验和工作成就的精英人才,其涵盖颗粒表征技术的基础理论研究、应用技术开发、产品制造、和商业运营服务。真理光学秉持以科学为先导,运用的技术手段,通过精细的管理,为客户提供的粒度表征及应用技术解决方案,其代表产品LT3600粒度仪适用于药物的颗粒粒度表征分析。在原料药的生产中,粒度是其一项*的指标。根据不同的片剂溶出度的要求,原料药的粒度应该控制在不同的粒度段,以达到药效理想化。


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