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化工仪器网>产品展厅>测量/计量仪器>长度计量仪器>CNC影像测量仪>PZ-5040H 高精度影像测量仪精度高

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PZ-5040H 高精度影像测量仪精度高

参考价 ¥ 98000
订货量 ≥1
具体成交价以合同协议为准

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联系我们时请说明是化工仪器网上看到的信息,谢谢!


北京品智创思精密仪器有限公司(以下简称品智创思),始终专注于精密影像测量领域的影像分析及测量软件的设计与研发。品智创思公司从事表面科学、分析仪器、计量检测设备及实验室仪器系统集成商;致力于为工业制造和科研领域用户提供显微分析,图像分析,缺陷识别和检验, 无损探查, 品质管理, 计量,过程控制等专业检测设备,依托强有力的技术资源及完善专业的售后服务与维修体系,向用户提供专业成熟细致的服务及全面地解决方案。
   

公司致力于提高工业产品的质量品质! 迄今为止,品智创思已为多家用户提供产品检测设备,用户遍布机械、电子、医疗、轨道交通、汽车、航空、航天、研究所、计量站、等行业,为用户提供的仪器和完善的解决方案,为用户工作提供强有力的技术支持。

品智创思秉承“专注质量、诚信服务、立足创新、真诚合作”的理念,为您提供、多角度的服务。

北京品智创思精密仪器有限公司愿与您精诚合作,共拓美好未来。

 

 

影像测量仪,光学显微镜,测量显微镜,试验机,接触角测量仪,表面张力仪,超景深显微镜,金相显微镜,投影测量仪,磨刀机显微镜

产地类别 国产 价格区间 面议
应用领域 医疗卫生,环保,生物产业,印刷包装,纺织皮革

高精度影像测量仪精度高结构美观大方,操作简便,结合本公司自主研发的测量软件,可实现准确的工件测量。

  广泛应用于机械制造、电子、汽车、五金、塑料、模具等行业,可以对工件尺寸、形状和位置公差进行精密检测,从而完成零件检测、外形测量、过程控制等任务。

高精度影像测量仪精度高产品特点

具有快速对焦、自动寻边、强大的编程和自动测量功能
采用亚像素细分技术,提高图像边界分辨能力
操纵杆/鼠标操作,方便易用
程控恒流驱动式八区表面冷光源,可适应复杂的工件测量
激光指示器指示测量位置,方便快速定位
在线SPC数据处理分析,大批量治具测量功能
三轴伺服控制,定位精度高速度快,XY速度可达200mm/s,运行平稳
嵌入式模块控制系统,将复杂的控制系统集成在仪器内部,稳定性更高
采用花岗石底座,性能稳定,不易变形
选配MCP简易测头,可做简单三维测量
选配自动变倍可实现多倍率下高效测量

    技术参数:

仪器型号

PZ-5040H

 

工作台

玻璃台尺寸(mm

560*460

运动行程(mm

500*400

仪器重量(kg

380

外形尺寸(mm

1100*950*1660

Z轴升降行程

200 mm

X、Y、Z数显分辨力

0.5μm

工作距离

92 mm

X、Y坐标示值误差

(2.5+L/100) μm (L为被测长度,单位:mm)

 

 

 

  统 

摄像机

1/2”彩色CCD

变倍镜头倍率

0.7X—4.5X

物方视场

11.1mm~1.7mm

视频倍率

20~128X

光源系统

表面光源与透射光源均用LED,亮度可调

 配置单:

 

  

  

序 号

名 称

规格品牌

数 量

单位

备        注

1

主机

工作台采用00级天然大理石

1

含光学玻璃

2

电脑

联想品牌电脑

1

含主机,显示器,键盘,鼠标

3

软件

QC1000软件

1

含加密锁,光盘,说明书

4

运动控制盒

 

1

配操纵手柄

5

光栅尺

中国台湾光学尺

3

PCS

 

6

导轨

Z轴配高精度直线导轨

2

 

7

丝杆

研磨级丝杆

3

PCS

 

8

马达

伺服马达

3

PCS

 

9

变倍镜头

手动变倍镜头

1

PCS

 

10

摄像机

1/2" CCD相机

1

PCS

 

11

表面光

八区程控光源

1

PCS

 

12

校正片

公司定制

1

PCS

 

`13

视频卡

公司定制

1

PCS

 

 

元素测量

能直接测量11种元素(点、直线、圆、圆弧、椭圆、矩形、槽形、环形、距离、角度、高度)。具有以下特点:

所测元素类型较多。除六种基本几何元素外,还有组合几何元素(槽形)和关联几何元素(距离与角度),以及高度,曲线等。
对用户感兴趣的距离与角度元素,既可作测量元素对待(可通过一次测量直接获得所需结果),又可作构造元素对待(构造方法灵活多样,构造功能极其大),从而增加了求距离和角度的灵活性与方便性。
测量方法多样(自动寻边、对比测量、局部放大采点、十字线寻边测量、鼠标采点测量),可以满足用户不同需求,大大提高使用的方便性,当某种特别的工件用自动寻边无法完成时,可通过对比测量和局部放大采点测量方式解决.



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