NDA 200 X荧光光谱仪
- 公司名称 纳优科技(北京)有限公司-J
- 品牌 其他品牌
- 型号
- 产地
- 厂商性质 生产厂家
- 更新时间 2019/4/10 11:25:10
- 访问次数 603
联系我们时请说明是化工仪器网上看到的信息,谢谢!
价格区间 | 面议 | 行业专用类型 | 通用 |
---|---|---|---|
仪器种类 | 台式/落地式 |
NDA 200 X荧光光谱仪分析方法配置:
►基于蒙特卡洛计算模型的基本参数法
► 经验系数法
► 理论α系数法
软件功能描述:
► RoHS指令、无卤指令等环保指令所限制的Pb、Hg、Cd、TCr、TBr、Cl等元素含量的分析
► 各种金属材料、无机非金属材料(不包括聚合物材料)的材质分析(S~U元素)
► 聚合物等有机材料中硫(S)~铀(U)元素的含量分析
► 分析报告的自主定制与输出打印
► 分析结果的保存、查询及统计
► On-Line实时在线技术支持与技术服务功能
► 多层镀层厚度测量功能(选配)
NDA 200 X荧光光谱仪主要配置
►美国Si-PIN电制冷半导体探测器
►侧窗钼(Mo)靶管
►标配16组复合滤光片
►配置了Φ0.5mm、Φ1mm、Φ3mm、Φ4mm四种准直器
►具备符合中国国家标准的样品混侧功能
►内置标准工作曲线
►配置On-line实时在线技术支持与服务平台
►具备开放工作曲线技术平台
►分析软件操作系统分级管理
产品参数
名称:X荧光光谱仪
型号:NDA200
输入电压:220±5V/50Hz
消耗功率:≤500W
环境温度:15-30℃
环境湿度:≤80%(不结露)
主机外形(mm):长*宽*高=900*500*440
样品仓(mm):长*宽*高=430*380*120
主机重量:约60公斤
技术指标
元素种类:元素周期表中硫(S)~铀(U)之间元素
测量时间:
对聚合物材料,典型测量时间为200秒
对铜基体材料,典型测量时间为400秒
检出限指标(LOD):
对聚合物材料:LOD(Pb)≤5mg/Kg;LOD(Hg)≤5mg/Kg;LOD(TCr)≤5mg/Kg;LOD(TBr)≤5mg/Kg;LOD(Cd)≤5mg/Kg
对铜基体材料:LOD(Pb)≤50mg/Kg
精密度指标,以连续测量7次的标准偏差σ表征:
对聚合物(塑胶)材料:LOD(Pb)≤15mg/Kg;LOD(Hg)≤15mg/Kg;LOD(TCr)≤15mg/Kg;LOD(TBr)≤15mg/Kg;LOD(Cd)≤7mg/Kg
对铜基体材料:LOD(Pb)≤50mg/Kg
准确度指标,以系统偏差δ进行表征
对聚合物材料:δ(Pb)≤100mg/Kg; δ(Hg)≤100mg/Kg; δ(TBr)≤100mg/Kg; δ(TCr)≤100mg/Kg; δ(Cd)≤10mg/Kg
对铜基体材料:δ(Pb)≤150mg/Kg