一、适用范围

黄铜、合金、电子产品的元素含量分析、ROHS检测等；

二、性能特点 

1.CIT-3000SYE能量色散X荧光分析仪采用数字化谱分析技术，计数率高，无漏计，稳定性好；
2.下照式无限样品平台设计，可以测量大部件的合金器件；
3.真空环境测量，提高了轻元素的激发效率和测量范围；
4.全元素分析，一次可以分析多种元素。
5.针对不同的元素，采用多组滤片设计，提高了检出限和测量精度。
6.*的模块化设计理念，保证了仪器后续的高扩展性；
7..CIT-3000SYE能量色散X荧光分析仪采用美国航天技术的Fast-SDD半导体探测器，能量分辨率优于125eV；
8.采用X光管激发样品，一次激发全部待测元素，功耗低、寿命长；
9.高压电源：数码显示，精度高；
10.主机采用数字化面板设计，管流、管压、样品位置、真空度等参数面板直接显示；
11.一体化设计，性能稳定，方便使用；
12.自主研发的优化分析软件可根据样品材质、形状和大小自动设定光管功率，既能延长光管使用寿命又能充分发挥探测器性能，大幅提高测量精度；
13.提供开放式工作曲线标定平台,可为每家用户量身定做检测和控制方案；
14.融合了一系列*的光谱处理方法，包括FFT（快速傅立叶变换滤波）、精准的背景扣除方法、微商自动寻峰和Quasi-Newton(准牛顿)优化算法等；
15.XRF分析软件，融合了包括经验系数法、基本参数法（FP法）、理论α系数法等多种经典分析方法，全面保证测试数据的准确性。
16.可根据用户要求自行定制测试报告输出格式（Excel、PDF等），符合工厂多种统计及格式要求。
17.数据管理设有用户密码，加强测试数据的严肃性及质量品控的可靠性。
18.2048道多道谱仪实时测量显示，对样品X光谱进行精细分析，系统可自动识别谱线；
19.软件自动稳谱，确保仪器*稳定；
20.全中文Windows应用软件，操作简单，*升级。