普林斯顿VersaScan微区扫描电化学工作站
- 公司名称 广州贝拓科学技术有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型号
- 产地
- 厂商性质 生产厂家
- 更新时间 2024/7/18 12:22:48
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广州贝拓科学技术有限公司成立于2010年8月，是国家高新技术企业，广州科技小巨人企业，并在广东股权交易中心成功挂牌（股权代码：892081），通过ISO9001-2015质量体系认证和知识产权贯标认定体系，拥有近30项国家砖利。贝拓科学一直从事光谱分析仪器领域，自主研发仪器有光学接触角测量仪，拉曼光谱仪，表界面张力仪，白光干涉膜厚分析仪，阵列式紫外可见分光光度计，积分球式透反射率测试仪等。具备光学设计、机械设计、软件编写和算法编写核心能力，和中山大学、广州大学、华南师范大学有紧密的合作关系，并且是广州大学物理与光电学院的长期实习基地。贝拓科学所研发生产的产品定位在国内高水平，未来面向市场。
贝拓科学陪伴着科学家一起探索未知事件，“Touch the future”作为我们的口号，贝拓科学尊重以严谨的科学理论为指导，为科学家提供有力的科研工具。我们默默坚持做前沿分析仪器的搬运工，陪伴科学家不断成长。我们很荣幸作为一些有仪器生产厂家，例如：日本Hitachi，德国WITec,德国Bruker，英国OXFORD，美国ThermoFisher,Ametek旗下输力强和普林斯顿,以及中国台湾OtO等大电子仪器厂家的代理，一起为中国的科学家提供专业的服务。
我们的宗旨是为科学学提供更专业，更贴心的服务。
我们的优势和专注点集中于材料测试方面，为了普惠科研工作者，我们还提供测试服务，其中包括材料的结构、元素分布、表面特征、物理化学特性以及光学、电学特性的分析。
材料分析领域代理品牌：
OXFORD（牛津）、FEI（赛默飞）、KeySight(前安捷伦纳米部)、STOE、AMETEK(阿美特克)、TESCAN(泰思肯)、LEICA、KRUSS、BEL、HITACHI（日立）、OTO（中国台湾超微光学）、WITec（威泰克）、BRUKER（布鲁克）、普析、徕卡、本原纳米等。
接触角测量仪、在线测厚仪、光学膜厚仪、红外光谱仪、拉曼成像光谱仪、拉曼电镜、低温恒温器、扫描探针显微镜/原子力、纳米压痕划痕仪、椭偏仪、热分析、差示扫描热仪
| 产地类别 | 国产 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 仪器种类 | 电化学工作站 |
普林斯顿VersaScan微区扫描电化学工作站
概要
VersaScan微区扫描电化学工作站是一个建立在电化学扫描探针的设计基础上的，进行超高测量分辨率及空间分辨率的非接触式微区形貌及电化学微区测试系统。
普林斯顿VersaScan微区扫描电化学工作站
它是提供给电化学及材料测试以*空间分辨率的一个测试平台。每个VersaSCAN都具有高分辨率，长工作距离的闭环定位系统并安装于抗震光学平台上。不同的辅助选件都安装于定位系统上，辅助选件包括，如电位计，压电振动单元，或者激光传感器，为不同扫描探针试验，定位系统提供不同的功能。VersaSTAT恒电位仪和Signal Recovery 7230锁相放大器和定位系统整合在一起，由以太网来控制，保证小信号的精确测量。
它 是一个模块化配置的系统，可以实现如下现今所有微区扫描探针电化学技术以及激光非接触式微区形貌测试：
Scanning Electrochemical Microscopy (SECM) 扫描电化学显微镜
Scanning Vibrating Electrode Technique (SVET) 扫描振动电极测试
Scanning Kelvin Probe (SKP) 扫描开尔文探针测试
Localized Electrochemical Impedance Spectroscopy (LEIS) 微区电化学阻抗测试
Scanning Droplet Cell (SDC) 扫描电解液微滴测试
Non-Contact Surface Profiling (OSP) 非触式光学微区形貌测试
以上每项技术使用不同的测量探针，且安装位置与样品非常接近，但是不接触到样品。随着探针测试的进行，改变探针的空间位置。然后将所记录的数据对探针位置作图，针对不同技术，该图可以呈现微区电化学电流，阻抗，相对功函或者是表面形貌图。
VersaSCAN SECM
Scanning ElectroChemical Microscopy 扫描电化学显微镜系统
VersaSCAN SECM 整合了定位系统、两台VersaSTAT恒电位仪和锥形抛光的超微电极探针为一体。SECM多样化的技术提供了高空间分辨率，可应用于反应动力学，生物传感器，催化剂和腐蚀机理等研究。
兼容恒电位仪: VersaSTAT 3F 和VersaSTAT 3/3F/4。
可进行逼近曲线实验包含“反馈”模式和“发生-采集”模式两种成像模式。
结合了表面形貌测量技术，如典型的如非接触式微区形貌扫描系统OSP，可进行样品表面定距离扫描，
VersaSTATs 配置不同功能的操作软件，能够提供强大的成套的非扫描电化学测试，取决于其*的软件模式。
VersaSCAN SVET
Scanning Vibrating Electrode Technique 扫描振动电极测量系统
VersaSCAN SVET 整合了定位系统及锁相放大器技术(Signal Recovery Lock-in Amplifier), 压电振动模块, 电位计和单丝探针。 SVET技术测量溶液中的电压降。电解液中的电压降是由样品表面的局部电流所导致的。 SVET提供高分辨率可应用于不均匀腐蚀，点蚀，焊接和电耦合等。此外，SVET还有生物方面的应用。
锁相放大器: Signal Recovery 7230
可进行线扫描和面扫描
当设定不同的测量时间测量，可进行时间分辨成像
结合了表面形貌测量技术，如典型的如非接触式微区形貌扫描系统OSP，可进行样品表面定距离扫描，
VersaSCAN LEIS
Localized Electrochemical Impedance System 微区电化学阻抗测试系统
VersaSCAN LEIS 整合了 定位系统和VersaSTAT 3F 及差分电压选项, 静电计，双探头探针。 LEIS技术是通过测量施加于样品的交流电压和由探针所测量的溶液中交流电流的比值，来计算局部阻抗，LEIS加入高的空间分辨率，可应用于有机涂层，裸露的金属腐蚀，和所有和增加的交流技术相关的应用。
恒电位仪：VersaSTAT 3F及差分辅助选项
可进行固定频率/扫描位置的数据成像，和固定位置/扫描频率的Bode图或者Nyquist图。
当设定不同的测量时间测量，可进行时间分辨成像
结合了表面形貌测量技术，如典型的如非接触式微区形貌扫描系统OSP，可进行样品表面定距离扫描，
VersaSCAN SKP
Scanning Kelvin Probe 扫描开尔文探针系统
VersaSCAN SKP整合定位系统及锁相放大器技术(Signal Recovery Lock-in Amplifier), 压电振动模块, 电位计和钨丝探针。SKP 技术测量探针和样品表面位置的相对功函差。这是一个非破坏的技术，可运行于环境气氛，潮湿气氛和无电解液情况下。相对功函已经被证实与腐蚀电位 (Ecorr)相关。SKP 提供的高空间分辨率可应用于材料，半导体，金属腐蚀，甚至这些材料上的涂层。
锁相放大器: Signal Recovery 7230
可进行表面形貌测量，测量和设置探针和样品间的距离。
使用同一探针，结合所进行的表面形貌测量，进行样品表面定距离扫描。
VersaSCAN SDC
Scanning Droplet Cell 电解液微滴扫描系统
VersaSCAN SDC 整合电位系统和一台VersaSTAT, 一个机械加工的PTFE 滴液系统头, 以及一个蠕动泵。SDC 技术对电解液微滴进行电化学测量, 固定电极/电解液界面的面积。SDC提供高空间分辨率可应用于动力学，腐蚀，流体研究和任何研究样品表面微小面积而无需破坏样品的应用或者控制面积在不同电解液中的暴露时间的应用。
恒电位仪: VersaSTAT 3 / 3F /4
可进行恒定电化学参数/位置扫描的数据成图和固定位置/动态信号的绘图，如循环伏安，塔菲尔, 电化学交流阻抗等。
可运行流动或者是静止的电解液液滴。
VersaSCAN OSP
Non-Contact Optical Surface Profiling 非触式光学微区形貌测试系统
VersaSCAN OSP整合定位系统和高精度，高速度激光位移传感器。 OSP 技术使用漫反射机理用于样品的表面形貌。OSP可作为非常灵敏水平的机制用于表面形貌测量，，或绘制地形图与其它扫描探针技术一起应用于样品表面定距离扫描测试。
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