K-Alpha+ 赛默飞 K-Alpha+ X射线光电子能谱仪系统

赛默飞 K-Alpha+ X射线光电子能谱仪系统是一款*集成的X射线光电子能谱。获奖的版K-Alpha平台特征光谱性能显著提高，提供更高计数率和更快分析时间，改善化学探测能力。分析选配件包括一个角分辨XPS倾斜模块和一个循环惰性气体手套箱，用于转移空气敏感样品。K-Alpha带来一系列激动人心的新软件特征，旨在进一步增强用户体验。赛默飞 K-Alpha+ X射线光电子能谱仪系统是专为多用户环境而设计，先进的单色X射线光电子能谱性能与智能自动化及直观控制相结合，同时满足有经验XPS分析人员及新人对此项技术的需求。
以最小的投入获得专家研究级的结果。Thermo Scientific™ K-Alpha™+X 射线光电子能谱仪 (XPS) 系统是一种*集成式单色小光斑 XPS 系统，具备深度剖析能力。zui先进的性能、更低的拥有成本、更高的易用性以及紧凑的尺寸，使 K-Alpha X 射线 XPS 系统成为多用户环境的理想选择。
以屡获殊荣的 K-Alpha XPS 系统为基础打造，K-Alpha+ 能谱仪可提供显著增强的能谱性能。这个巨大的进步可实现更快的分析、更好的元素检测以及获得更高分辨率的数据以更好地完成化学状态鉴定。
分析选项包括革命性的复合型离子源、一个用于将空气敏感样品从手套箱转移到系统的真空传递模块，以及用于收集 ARXPS 数据的倾斜模块。配备 Thermo Scientific™ Avantage 数据系统（全面的表面分析软件系统），K-Alpha+ 具有一系列的软件功能，专为优化数据解读、数据报告和可用性而设计。K-Alpha+ XPS 系统可满足经验丰富的 XPS 分析员和新手的要求，将高性能 单色化 XPS 和溅射深度剖析与智能自动化和直观控制结合在一起。
强大的性能
可选面积能谱分析
溅射深度剖析
微聚焦单色器
快照采集
高分辨率化学状态能谱分析
绝缘样品分析
定量化学成像
无以伦比的易用性
采集——能谱、图像、剖析、线扫描
解读—— 元素和化学状态鉴定
处理 —— 定量、分峰拟合、实时剖析显示、能谱图像处理、PCA、相分析、TFA、NLLSF、PSF 扣除、光学/XPS 图像叠加
报告—— 自动生成报告且可轻松导出到其他软件包
所有硬件都通过 Avantage 软件界面进行控制
Avantage Indexer——数据存档索引
审计跟踪记录
系统性能记录
按需校准
*的远程操控
主要特点
分析器—— 180° 双聚焦半球型分析器，配备 128 通道检测器
X 射线源—— Al Ka 微聚焦单色器，可变光斑尺寸（30-400 µm，以 5 µm 为步长）
离子枪—— 能量范围 100-4000 eV
荷电补偿——双束源
样品处理——4 轴样品台、60 x 60 mm 样品区域、20 mm 最大样品厚度
真空系统——2 x 220 L/s 涡轮分子泵，用于进样室和分析室
可选配件——Thermo Scientific™ MAGCIS™ 复合型离子源、真空传递模块、用于 ARXPS 的倾斜模块、样品偏压模块。