二手安捷伦等离子体质谱仪/7500 ICP-MS
参考价 | ¥ 600000 |
订货量 | ≥1 |
- 公司名称 亿顿科技(天津)有限公司
- 品牌 Agilent/安捷伦
- 型号
- 产地 美国
- 厂商性质 经销商
- 更新时间 2018/7/24 10:48:17
- 访问次数 996
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价格区间 | 50万-100万 | 仪器种类 | 四极杆质谱 |
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ICP-MS已被*为痕量金属元素分析的优选技术。当今的常规实验室要求比ICP-OES更为灵敏,比石墨炉原子吸收(GFAAS)更为快速的分析技术。ICP-MS可满足上述两方面的需求,它具有更宽的工作范围,并可同时测定能生成氢化物的元素及痕量Hg,同时还具备半定量及同位素比分析能力。ICP-MS又可作为一种极为理想的多功能的检测器,与色谱和激光技术联用。
安捷伦新的7500系列具有*自动化的易于使用、灵活性、可靠性以及优秀的设计,它提供了zui高水平的分析性能。新的7500系列可配备第二代八级杆反应池(ORS)技术,提供多种选择的进样附件、的应用与维修服务支持,它正在实验室进入ICP-MS时代。
安捷伦新的7500系列包括两种不同的型号,可满足不同的应用需求和经费预算。无论您的应用需求有什么变化,安捷伦都将确保仪器的扩展功能与现场升级能力,使您的投资得到报偿。
Agilent 7500cxgi
碰撞池ICP-MS能满足所有常规分析要求的应用
安捷伦*的ORS碰撞池技术可使用氦碰撞模式使新型7500cx成为zui简单、更灵活、功能更强大的ICP-MS。对zui难分析的样品基体而言,7500cx是易于实现ppt级定量分析的明智选择。
通用的氦碰撞模式能可靠地且可预见地除去所有基体干扰
- 易于设置-步骤简单,无需复杂的优化过程
- 提高了分析效率-分析期间无需气体模式切换
- 改善了未知基体的样品的分析数据可靠性-与反应气体不同,无新的干扰物形成,不损失分析物和内标
- 无需数学校正公式
专为分析高基体样品而设计
- 真正的9个数量级的线性动态范围-在所有ICP-MS中其线性动态范围zui大
- 具有耐受复杂样品基体的样品引入系统和接口,可以轻松分析如废水、土壤、食物、生物医学样品、石化以及地质样品等难分析的样品
无干扰的半定量分析-快速!
- 氦碰撞模式可以实现未知样品的全扫描半定量分析-无干扰现象,且一次采集即可完成分析
可选配的反应池气路-反应气模式-特殊应用
- 可选配的氢气反应模式-使硒的检测限达几个ppt
- 可选配的Xe反应模式-可测定亚ppb级的硫
许多公司的无机元素分析实验室已采用安捷伦的7500 ICP-MS取代其它各种分析技术以提高分析速度和工作效率。该趋势随着Agilent ORS技术的发展更为显著。安捷伦的ORS ICP-MS因其zui宽的动态范围和无基体干扰特点,正在世界范围内取代ICP-OES、GFAA以及其它元素技术。
7500系列包括两种型号-7500cx,7500cs-满足当今繁忙的痕量元素分析实验室的多种动态应用需求
Agilent 7500cs
*的半导体超痕量分析仪器
八极杆反应池(ORS)技术拓展了ICP-MS在半导体中的应用范围。
- 超高灵敏度提供了zui的检出能力,采用ORS技术可消除各种zui难测定的半导体样品中的基体干扰
- ORS具有*的抗*力,甚至可有效消除硫酸中的S产生的多原子干扰,实现了极易受S干扰的Ti和Zn的直接测定
- 利用H 反应模式消除氩基干扰粒子,比如ArO或Ar2
- 采用安捷伦的屏蔽炬的冷等离子体技术,性能*,能获得zui低的背景等效浓度(BECs),*适应各种分析需求
- 可选配的第三种反应池气路用于NH 反应模式-用于高纯盐酸中超痕量钒的测定
- 所有包装、运输和排气管道等特殊设计是专为超净室中应用而专门提供
安捷伦 Agilent 7500 ICP-MS电感耦合等离子体质谱是一种新型的无机元素和同位素分析技术,可快速同时检测周期表上几乎所有元素。ICP-MS技术在分析能力上,超过传统的无机分析技术如电感耦合等离子体光谱技术(ICPAES)、石墨炉原子吸收(GFAAS)和汞冷原子吸收技术(CVAAS)的总和,被称为当代分析技术激动人心的发展。
二手安捷伦ICPMS 7500 电感耦合等离子体质谱技术的应用领域包括:
环境样品分析,包括自来水、地表水、地下水、海水以及各种土壤、废弃物等的分析
半导体材料分析
玻璃、陶瓷和矿冶等样品分析
地质学研究
生物食品及医药临床研究
核材料分析
石油化工样品分析
法医应用与研究
近,与分离技术联用进行环境毒理、生命科学等领域的元素价态、形态分析成为ICP-MS技术应用的一个焦点。
二手安捷伦ICPMS 7500 电感耦合等离子体质谱分析特性:
可快速同时检测周期表上几乎所有元素
zui低的检出限(低至ppq级)
分析效益/成本比*
zui宽的线性动态范围—可直接检测从ppq到数百ppm浓度
谱线zui简单、干扰zui小,准确度和精密度好
需要样品量很低(ul至ml),分析速度很快(1~3分钟/样品)
检测模式灵活多样
半导体工业常用材料中超痕量污染物分析
固体:Si;GaAa单晶切片;石英、碳化硅等炉材料;高纯金属电极等
液体:超纯水;HF;HNO3;HCI;H2SO4;H2O2;氨水等
气体:SiH4;TE0S;NF3;N2等
Agilent ICP-MS可直接分析有机样品。
Agilent ICP-MS的高效能、高功率屏蔽矩冷等离子体技术已被用于测定一系列有机样品的ppt级痕量污染元素。
对其中一些样品,其他方法无法得到满意的结果,高功率屏蔽矩冷等离子体技术是wei一的分析方法。
强碱性清洗剂——四甲基氢氧化氨(TMAH)等
常用有机溶剂——甲苯、二甲苯、IPA等
高基体样品——光刻胶、液晶、BPSG、PSG等挥发性*的清洗剂——丙酮、甲醇等
售后服务:
1、供方负责免费上门安装调试、保修期一年,终生负责维修。
2、负责现场用户培训,保证*供应零配件。