1NM 3938E77 TSI 1NM 3938E77型扫描电迁移粒径谱仪
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- 公司名称 天津恩耐德科技有限公司
- 品牌
- 型号 1NM 3938E77
- 产地 美国
- 厂商性质 经销商
- 更新时间 2024/3/17 11:39:35
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| 产地类别 | 进口 |
|---|
产品详情
TSI推出的SMPS TM 扫描电迁移粒径谱仪被广泛用于测量1微米以下的气溶胶粒径分布的测量 标准。选配3777型纳米增强仪以及3086型DMA差分电迁移分析仪（1nm-DMA）组件后，SMPS粒径谱 仪能够测量纳米的粒径范围扩展至1nm。。
以下特性和优势是基于由 3082 型静电分级器 、 1nm-DMA差分迁移分析仪 、 3777型纳米增 强仪 、3772型凝聚粒子计数器 等组件共同组成的SMPS扫描电迁移粒径谱仪。
特性和优势
高分辨率粒径分布
+ 64通道/10倍粒径
+ 1到50nm之间多于109通道
给您比较大灵活度的组件设计
1nm到50nm的极宽粒径范围
+和3081A型长差分电迁移分析仪配套使用能够测量1nm到1um
三个数量级的粒径
化设计，将散逸损失降到比较低，系统高度整合
通过气溶胶仪器管理（AIM）软件进行系统操作
离散颗粒物测量：多模态样品测量效果*
应用
基础气溶胶研究
颗粒成核及生长研究
大气及气候研究
燃烧及发动机排放研究
过滤器及空气净化器测试
吸入或暴露舱研究
健康影响因素研究
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