SYS-YPH/S 数显叶片厚度仪

数显叶片厚度仪介绍
叶片是植物zui重要的器官，其形态变化可以反映出植物生长状态的变化，如光合作用、水分情况、养分情况等。研究表明，叶片厚度变化具有周期规律性，可分为长周期和短周期（24小时）。掌握这些规律对研究植物水分状态具有重要意义。
数显叶片厚度仪技术参数：
测量范围：0--17mm                             
分 辨 率：0.001mm
精 度：0.005mm
接触面积：Φ10mm
读取装置：数显

操作步骤及注意事项：  

1． 使用前务*对折的白纸光面轻轻擦净两测量面。  
2． 使用时应重复拨动拨叉（或按键）数次进行调零过程，转动表圈找准零位。 
3． 将被测对象放入上、下测钻（头）卡紧，指针读数值限为被测对象厚度。  
4． 在测量塑料薄膜时，由于薄膜生产过程会产生静电感应，因此每测量一次后还必须用对 折的白纸面轻擦两测量面。 
5． 使用时不允许过度冲击，嗑碰。  
6． 除正常维修外，不允许任意拆卸各零部件（包括指示表和上、下测钻），以免影响 测量精度。  
7． 产品复检必须按产品标准中检查验方法和规则检验，其指示表技术精度不再单独检验。 
8． 使用完毕后应擦净测量面后放入包装盒内。
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