Crossbeam340/5 德国蔡司聚焦离子束扫描电子显微镜
参考价 | ¥ 17 |
订货量 | ≥1 台 |
- 公司名称 深圳市广润自动化/藝橋科技(香港)有限公司
- 品牌 ZEISS/蔡司
- 型号 Crossbeam340/5
- 产地 德国
- 厂商性质 代理商
- 更新时间 2019/12/30 14:52:34
- 访问次数 2036
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微间距LED 银浆高速检测机、LED金线结构3D检测、微米级3D测量仪、LED灯丝检查包装机,三坐标测量机,热分析仪、差示扫描量热仪、热重力分析仪、热机械分析仪、动态热机械分析仪等,精研一体机、3D视频显微镜、正置材料显微镜、三离子束切割仪等,
应用领域 | 电子/电池 |
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德国蔡司聚焦离子束扫描电子显微镜
提高您的FIB样品的测试加工效率
通过FIB智能的刻蚀策略,其材料移除速率可提升高达40%。
在镓离子类型的FIB-SEM中采用了大离子束束流。使用高达100nA的离子束束流可显著节约时间,同时具有良好的FIB束斑形状,从而获得高分辨率。得益于智能的FIB扫描策略,移除材料时高效且精准。可自动批量制取样品,例如截面,TEM样品薄片或任何使用者自定义的图形。
在FIB-SEM分析中体验优异的三维空间分辨率
体验整合的三维能谱分析所带来的优势
可使用蔡司Atlas
5软件扩展您的Crossbeam,它是一个针对快速而准确的三维断层成像的软硬件包。使用Atlas 5中集成的三维分析模块可在三维断层成像的过程中进行能谱分析蔡司Crossbeam将Gemini电子束镜筒和定制的聚焦离子束镜筒结合起来,从而获得高精度与速度。因此FIB-SEM的断层成像可获得优异的三维空间分辨率和各向同性的三维体素尺寸。使用Inlens EsB探测器,探测深度小于3nm,可获得表面敏感的、材料成分衬度图像。
德国蔡司聚焦离子束扫描电子显微镜