AP-CJ 元器件热冲击

元器件热冲击用于测试电子产品，电子，电器，电子产品，电子元器件，数码产品，手机，电脑，太阳能组件等产品及零部件在瞬间下经*温及极低温的连续环境下忍受的程度，得以在zui短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。
元器件热冲击主要技术：
型号尺寸有：
型号:AP-3CJ-50        工作室尺寸:360×350×400mm     外型尺寸约:1560×1750×1450mm 
型号:AP-3CJ-80        工作室尺寸:500×400×400mm     外型尺寸约:1700×1870×1550mm 
型号:AP-3CJ-150       工作室尺寸:600×500×500mm     外型尺寸约:1810×1900×1555mm 
型号:AP-3CJ-252       工作室尺寸:700×600×600mm     外型尺寸约:1900×2000×1700mm 
型号AP-3CJ-1000      工作室尺寸:1000×1000×1000mm  外型尺寸约:2110×2200×2665mm 
温度范围可选择：A等于：-40℃～+150℃； B等于：-55℃～+150℃；C等于：-65℃～+150℃
温度波动：±0.5℃
温度偏差：±2.0℃
转换时间：10秒钟以内（风门 开启时间：5秒以内）
冲击速率：3～5分钟内完成
试验方式：采用*之蓄热、蓄冷结构，强制冷热风路切换方式导入测试区，冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击,完成冷热温度冲击测试。
外壳材料：优质SUS304不锈钢拉丝或者钢板烤漆，颜色可选
内箱材料：优质SUS304不锈钢：具有良好的耐蚀性、耐热性，低温强度和机械特性；冲压、弯曲等热加工性好，无热处理硬化现象（无磁性，使用温度-196℃～800℃）
压缩机：法国"泰康"牌或德国"比泽尔"
特点：
1.外形美观、结构合理、工艺、选材考究，具有简单便利的操作性能和可靠的设备性能。
2.设备分为高温箱,低温箱,测试箱三部分,采*之断热结构及蓄热蓄冷效果，试验时待测物*静止，应用冷热风路切换方式将冷,热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的.
3.采用计测装置,控制器采用大型彩色液晶人机触控对话式LCD人机接口控制器,操作简单,学习容易,稳定可靠,中，英文显示完整的系统操作状况、执行及设定程序曲线。
4.具有100个试验规范独立设定,冲击时间999小时59可独力当作高温箱或低温箱使用,一机三用。
6.具备全自动，高紧密系统回路、任一机件动作，*有P.L.C锁定处理，全部采用P.I.D自动演算控制,温度控制精度高。
7.科学的空气流通循环设计，使室内温度均匀，避免任何死角;完备的安全保护装置，避免了任何可能发生安全隐患，保证设备的长期可靠性。