台式LIBS激光诱导击穿光谱元素分析仪
用途：ChemRevealTM直接对所有固体材料中的未知元素进行快速、精准化学分析，实现对样品表面和断面分析并实现空间制图。该仪器采用*的激光诱导击穿光谱分析方法，结合ChemRevealTM软件可快速分析样品组分中元素含量多少，同时软件可支持建立用户自定义和预加载数据库/定标曲线。
ChemRevealTM系统包括高分辨率成像系统、电脑控制样品操作系统、激光器、光谱仪和探测器的集成系统，能够测量有机物成分如C、H、O、N等轻元素，同时还可以测量Li、B、Be、Na、Mg等重金属元素。需要检测Al、Mg、C等轻元素时，或是制备样品时间不够的情况下，LIBS是替代XRF的*选择。
特点：
测量元素多，原子序数z<12的轻元素和重元素、能进行分析；
快速分析，数秒内即可出分析报告；
不需要制备检测样品或者少量样品即可；
无需消解试剂，更环保，更安全；
比其他元素分析设备需要样品量少；
可在微米范围内制作深度剖析和空间制图，测定不同样品表面的元素成分分布；
微观分析到宏观分析，具有灵活的定点精确分析；
定性分析样品成分，定量分析元素含量；
对大多数元素的检出限制为10 ppm到100 ppm；
可配置多种激光和光谱探测器选项；
实用性强，免维护，没有耗材；
无需光学校准操作；
技术规格：
元素测量范围 | 原子序数Z>=1 (包括C, H, O等有机元素，以及N, Li, Be, B等轻元素，以及几乎所有金属、非金属元素) |
浓度范围 | 10ppm至%级别（取决于元素及仪器配置） |
分析类型 | 定性及定量分析 |
分析时间 | 一般20s左右 |
样品形态 | 固体或粉末（粉末需要压片后测量）。直接测量，无需特别的样品制备 |
样品放置 | XYZ三轴全自动可自由定位样品台，行程可达125px，步进电机驱动，定位精度0.8 μm |
样品成像 | 双摄像头配置。5x广角镜头用于大视野观察；400x高倍放大镜头用于微观精确定位；带LED照明；摄像头与激光器的光学组件同轴，确保精确定位及采样 |
zui低样品质量 | ~100pg至10 μg（取决于样品） |
zui大样品尺寸 | 约22.8cm x12.7cm x12.7cm |
分析光斑尺寸 | 光斑大小可调。zui小：5μm，zui大：400μm |
分析深度 | ~1 - 100μm，取决于材料材质及激光器能量设置 |
激光能量计量 | 266nm激光器：0~50mJ/脉冲 +/-5%，可调 1064nm激光器：0~400mJ/脉冲 +/-5%，可调 带激光能量反馈 |
光谱仪采样延时时间 | 延时时间500 ns ~ 1 ms可调，调整分辨率100ns |
校准 | 水银灯校准Echelle光谱；标准材料校准宽幅光谱 |
软件 | ChemRevealTM软件： ＋硬件控制（样品台、激光器、聚焦、成像）； ＋数据获取 |
ChemLyticsTM软件； ＋自动元素鉴定； ＋单变量定量和校准； ＋数据库建立和匹配 | |
ChemILyticsTMPlus软件： ＋模型建立和数据可视化； ＋多变量定量分析； ＋多变量定性分析 | |
光谱探测器 | 4通道宽幅光谱仪（波长λ=190-950nm） |
7通道宽幅光谱仪（波长λ=190-950nm） | |
配有iCCD探测器的Echelle光谱仪（波长λ=200-900nm） | |
仪器尺寸 | 仪器总尺寸（高x宽x厚）：43cm x50.8cm x42.7cm； 激光供电及冷却设备尺寸：31cm x11.8cm x40.6cm； 电脑：标准台式机 |
仪器结构 | 一体化设计，确保设备的可靠性及*性 |
总重量 | 仪器质量：45kg； 激光供电及冷却设备质量：14kg（带冷却液）； 电脑：标准台式机 |
计算机 | Windows7多核处理器 |
所需气体 | 氩气或氦气：分析N, H, O等有机元素时需要少量的氩气或氦气作为保护气，由计算机自动控制电磁阀操作 |
电源 | 120V~240V通用，10A |
标准及认证 | 仪器整体CE认证，满足ISO9001:2008 |
产地：美国
采购中心
化工仪器网