YED5100-H 激光粒度仪-激光颗粒度分析仪
| 参考价 | ¥ 14 |
| 订货量 | ≥1 |
- 公司名称 厦门亿恩达科技有限公司-J
- 品牌
- 型号 YED5100-H
- 产地 厦门
- 厂商性质 经销商
- 更新时间 2018/1/23 14:19:19
- 访问次数 431
联系我们时请说明是化工仪器网上看到的信息，谢谢!
主要技术参数：
规格型号 | YED5100（标配） | YED5100（高配） | ||
执行标准 | ISO 13320-1:1999；GB/T19077.1-2008 | |||
测试范围 | 0.1μm -600μm | 0.1μm -800μm | ||
探测器通道数 | 48 | 48 | ||
准确性误差 | <1%（国家标准样品D50值） | |||
重复性误差 | <1%（国家标准样品D50值） | |||
免排气泡 | 具备免排气泡设计，无气泡干扰数据更准确 | |||
误操作保护 | 仪器具备误操作自我保护功能，仪器对误操作不响应 | |||
激光器参数 | He-Ne激光器 λ=632.8nm, p>2mW | |||
分散方法 | 超声 | 频率：f=40KHz,功率：p=80W,时间：随意可调 | ||
循环、搅拌 | 循环搅拌一体化设计，转速：100-33950rpm转速可调 | |||
循环流量 | 额定流量：0-10L/min可调 额定功率：25W | |||
样品池 | 自行设计沸腾式样品池，分散效果更好，容量：190-600mL均可正常测试 | |||
软件功能 | 分析模式 | 包括自由分布、R-R分布和对数正态分布、按目分级统计模式等，满足不同行业对被测样品粒度统计方式的不同要求 | ||
统计方式 | 体积分布和数量分布，以满足不同行业对于粒度分布的不同统计方式 | |||
统计比较 | 可针对多条测试结果进行统计比较分析，可明显对比不同批次样品、加工前后样品以及不同时间测试结果的差异，对工业原料质量控制具有很强的实际意义 | |||
自行DIY显示模板 | 用户自定义要显示的数据，根据粒径求百分比、根据百分比求粒径或根据粒径区间求百分比，以满足不同行业对粒度测试的表征方式。径距、*性、区间累积等等 | |||
测试报告 | 测试报告可导出Word、Excel、图片（Bmp）和文本（Text）等多种形式的文档，满足在任何场合下查看测试报告以及科研文章中引用测试结果 | |||
多语言支持 | 中英文语言界面支持，还可根据用户要求嵌入其他语言界面。 | |||
智能操作模式 | 真正全自动无人干预操作，无人为因素干扰，您只需按提示加入待测样品即可，测试结果的重复性更好。 | |||
操作模式 | 电脑操作 | |||
测试速度 | <2min/次（不含样品分散时间） | |||
体积 | 1170mm*460mm*470mm | |||
重量 | 35Kg | |||
散射理论的研究开始于上一世纪的70年代。1871年，瑞利（Lord Rayleigh）首先提出了*的瑞利散射定律，并用电子论的观点解释了光散射的本质。瑞利散射定律的适用条件是散射体的尺寸要比光波波长小。
1908年，米氏（G. Mie）通过电磁波的麦克斯韦方程，解出了一个关于光散射的严格数学解，得出了任意直径、任意成分的均匀粒子的散射规律，这就是*的米氏理论。
1957年， H. C. Van de Hulst 出版了关于微小粒子光散射现象的专著，总结了粒子散射的普遍规律，受到科技界人士的广泛注意，这本专著被认为是光散射理论领域的经典文献。
1969年，M . Kerker 系统论述了光及电磁波散射的一般规律，为散射理论的进一步发展做出了贡献。1983年，C. F. Bo hren ，O. R. Huff man综合前人的成果，又发表了关于微小粒子对光散射及吸收的一般规律，更全面地解释了光的各种散射现象。至此，散射理论的体系建立起来了。
1976年J . Swit henbank 等人利用米氏理论在时（ d为散射粒子的直径，λ为光波波长）的近似式 ——夫琅和费（Franhofer）衍射理论发展了激光粒度仪，开辟了散射理论在计量测试中的又一新领域。
由于光散射法适用范围宽，测量时不受颗粒光学特性及电学特性参数的影响，因此在随后的三十年时间内已成为粒度计量中zui为重要的方式之一。
采购中心
化工仪器网