Xradia 800 Ultra 蔡司Xradia 800 Ultra X 射线显微镜
具体成交价以合同协议为准
- 公司名称 北京天宇恒泰科技有限公司
- 品牌
- 型号 Xradia 800 Ultra
- 产地
- 厂商性质 经销商
- 更新时间 2017/11/21 15:45:09
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Xradia 800 Ultra 的zui小分辨率低至50 nm,使微观结构和进程可视化,这些是传统实验室 X 射线技术不能实现的。在 X 射线能量为8 KeV下运行,的穿透力和衬度适合各种材料,使您可以观察自然状态下的结构和材料。
集成相位衬度技术的 Xradia 800 Ultra 运用 Zernike 方法在吸收衬度低时可增强晶界和材料交界处的可见度,使未染色的超结构和纳米结构可视化。
蔡司Xradia 800 Ultra 采用类似横切法的无损技术,提供可信赖的内部 3D 信息。大工作距离和空气样品环境使您可以轻松的进行原位研究。
- 无损三维 X 射线成像允许在直接微观结构观察下对同一样品进行重复成像
- 在原位设备中样品成像保持低至 50nm 的高分辨率
- 用于断层扫描重构的图像自动调整功能
- 视野可在 15 至 60 μm 的范围内进行切换
- 吸收衬度和 Zernike 相位衬度成像模式
- 在实验室中开发、准备、测试你计划的同步实验,让有限的同步辐射时间更加有效率
- 搭配 Scout-and-Scan 控制系统和基于工作流程的用户界面,尤其适合研究人员水平各不相同的中心实验室