DUALSCOPE MP0/MPO 德国Fischer费希尔DUALSCOPE MP0/MPO涂层测厚仪
- 公司名称 上海君翼仪器设备有限公司
- 品牌 Helmut Fischer/德国菲希尔
- 型号 DUALSCOPE MP0/MPO
- 产地 德国Fischer费希尔
- 厂商性质 经销商
- 更新时间 2017/9/27 13:45:23
- 访问次数 1283
联系方式：王经理18621801483 查看联系方式
联系我们时请说明是化工仪器网上看到的信息，谢谢!
| 价格区间 | 1千-5千 |
|---|
德国Fischer费希尔DUALSCOPE MP0/MPO涂层测厚仪简介:
德国fischer公司生产DUALSCOPE MP0/MPO涂层测厚仪集合了磁性测厚仪（P-MPOD）和涡流测厚仪（I-MPOD）两种仪器的功能，可用于测量铁基及非铁基体上涂层的厚度。如：
1. 钢铁材料上的铜、铬、锌等电镀层或油漆、涂料、搪瓷等涂层厚度。
2. 铝、铜、金等箔、带材料及纸张、塑料膜的厚度。
3. 铜、铝、镁、锌等非铁金属材料上的涂层厚度。
4. 铝、镁材料上阳极氧化膜的厚度。
5. 各种钢铁及非铁金属材料上热喷涂层的厚度。
德国Fischer费希尔DUALSCOPE MP0/MPO涂层测厚仪特点:
*符合国家标准GB/T4956和GB/T4957，可用于生产检验、验收检验及质量监督检验。
*采用双功能内置式探头，无需更换探头，可自动识别铁基或非铁基体材料，并选择相应的测量方式进行精确测量。
*符合人体工程学设计的双显示屏结构，可以在任何测量位置读取测量数据。
*采用手机菜单方式快速选择功能。
*仪器可设定上下限，测量结果超出或符合上下限数值时，仪器会发出相应的声音或闪烁灯提示。
德国Fischer费希尔DUALSCOPE MP0/MPO涂层测厚仪技术参数：
可测量的涂镀层系统 | NF,Iso/Fe 磁性钢铁基材上非磁性镀层和非导电涂层的厚度(磁感应方法) 和 Iso/NF 非磁性金属基材上非导电涂层的厚度 |
测量范围 | NF,Iso/Fe 0- 2000 µm (0 - 78 mils) Iso/NF 0- 2000 µm (0 - 78 mils) |
测量误差 | For applicationsNF,Iso/Fe 0 ... 75 µm (0 -3mils) ±1.5 µm 75 ... 1000 µm (3 -39mils) ±2% 1000 ... 2000 µm (39-78mils) ±3% ForapplicationsIso/NF 0 ... 50 µm (0 -2mils) ±1µm 50 ... 1000 µm (2 -39mils) ±2% 1000 ... 2000 µm (39-78mils) ±3% |
重复精度 | ForapplicationsNF,Iso/Fe 0 ... 50 µm (0 - 2mils) ±0.25 µm 50 … 2000 µm (2-78 mils) ±0.5 % ForapplicationsIso/NF 0 ... 100 µm (0 - 4mils) ±0.5µm 100 … 2000 µm (4-78mils) ±0.5% |
重量 | 85 g (2.73oz)(不含电池);135 g (4.34 oz) (含电池) |
尺寸 | W x D x H: 64 mm x 30mmx 85 mm (2.5” x 1.2” x 3.4”) |
电源 | 2 x battery LR6.AA1.5V |
功耗 | Max.0.2Watt |
环境温度 | 操作温度5°- 40°C (41°-104°F) ; 储存温度: 5°-60°C (41°–140°F) |
相对湿度 | 30 ... 90%(无凝水) |
测量数据内存 | zui多999个测量读数 |
zui小测量间隔 | 2 秒 |
注：本公司保留对上述参数的zui终解释权，因技术改进而引起的变化恕不另行通知。
德国Fischer费希尔DUALSCOPE MP0/MPO涂层测厚仪标配：
两节5号电池、主机一台；
铁、铝基体各一块；
标准片一片；
手提仪器盒；
操作手册。
德国Fischer费希尔DUALSCOPE MP0/MPO涂层测厚仪测量涂镀层厚度方法步骤:
1. 仪器开启后，把仪器放在要测量工件上，等待仪器发出测量声响。这种方式可以自动开启仪器。
2. 把仪器提离工件。测量声响后显示读数。说明：若太早提起仪器(未有声响前)，错误信息 “Er6”会出现。重复步骤1。
3. 当仪器已在开启状态时，读数会马上显示。仪器放在测量工件上及提起后均有显示。
DUALSCOPE MPO涂层测厚仪校准
4.校准需要有下面几项：底材（形状和底材物料要与待测部件*）和一片标准片(仪器随机的75 µm左右标准片)。说明：校准将删除内存中的所有读数。
5.按[CAL]键。
显示"Base" (即 “未镀过的底材”)
在底材上测量五次左右.
每次测量后，会显示当前的读数。
6.按[OK]键.
显示 0.00 和STD1 (即校准标准片 # 1).
把校准标准片放在底材上，并测量5次左右。
每次测量后，屏幕上会显示当前读数。
7.用﹤或﹥键调整第4步的zui后一个数值至标准片的标称值，如“75 µm”。标准片的标称值注明在标准片上。
8.按 [OK]键。
完成校准程序. 仪器返回测量状态.
采购中心
化工仪器网