SWT-9000 日本sanko膜厚仪fn-325两用探头SWT-7000用

测量方式

电磁式·涡电流式两用（铁·非铁底材自动识别）

测量范围

铁底材：0～3.00mm、非铁底材：0～2.50mm

表示分辨率

1μm：0～999μm的切换（铁·非铁共通）

0.1μm：0～400μm（铁·非铁共通）

0.5μm：400～500μm（铁·非铁共通）

0.01mm:1.00～3.00mm（铁底材）

0.01mm:1.00～2.50mm（非铁底材）

测量精度

（平滑表面）

0～100μm：:1μm（铁·非铁共通）

或者是指示值的±2%以内

101μm～3.00mm:±2%以内（铁底材）

101μm～2.50mm:±2%以内（非铁底材）

探测部

1点定压接触式、V形切口、φ13×52mm、72g

选择产品

V形探测头套有3种（φ5以下用、φ5～10用、φ10～20用）

附属品

标准校正板、试验用零校正板、（铁用·非铁用）

测量对象

铁底材：铁·钢等磁性金属底材上的皮膜、衬层、喷涂膜、

电镀（电解镍除外）等

非铁底材：铝、铜等非磁性金属底材上的绝缘皮膜等

一般较普遍的测量物用

测量范围

连接的探测头不同测量范围也不同。

显示方式

液晶显示LCD（数据·提示信息）、背光灯

检量线校正

2点校正方式（零校正、标准校正）

检量线存储

铁、非铁各1根

10根

测量值存储

—

20,000点

数据传送

—

USB

USB

统计功能

—

—

内藏

附加功能

●背光灯　　　●测量模式的切换（普通／连续）　　　●检量线、校正值的删除

●自动关机功能（约3分以上不操作时，机器会自动关机）　●分辨率的切换　　

●上下限值的设定（SWT-7200Ⅲ）

电源

单3电池 ×2

单3电池 ×2     电源线

使用温度

0～40C°（不结露）

机体尺寸·重量

72（W）×30（H）×156（D）mm、 重量 210g

附属品

干电池、收纳袋子

干电池、收纳袋子、电源线、USB线、USB软件（CD）

追加产品

铁材金属用探测头（Fe）、非铁材金属用探测头（NFe）

铁·非铁材用探测头（FN-325）

测量方式

电磁感应式

测量范围

0～2.50mm

0～600μm

表示分解率

1μm：0～999μm

切换

0.1μm：0～400μm

0.5μm：400～500μm

0.01mm:1.00～2.50mm

1μm：0～600μm

切换

0.1μm：0～400μm

0.5μm：400～500μm

测量精度

（平滑面）

0～100μm:±1μm

又或者时显示值的±2%以内

101μm～2.50mm：±2%

0～100μm:±1μm

又或者时显示值的±2%以内

101μm～600μm：±2%

探测部

1点定压接触式

V形口套头

2.5：φ13×48mm

2.5L:18×23×67mm

1点定压接触式

测量部：约20×57mm

全长：约550～ 1.550mm

（伸缩式）

1点定压接触式

Φ5.6×94mm

选择产品

V形套头/—

（φ5以下用、φ5～10用、φ10～20用）

—

—

附属品

标准校正片

试验用零校正板

（铁用）

标准校正片

试验用零校正板（铁用）

收纳袋子

标准校正片

试验用零校正板

（铁用）

测量对象

铁·钢等的磁性金属底材上的皮膜、衬层、喷涂层、电镀层（电解镍的电镀层除外）等等

铁·钢等的磁性金属底材是哪个的皮膜、衬层等等手不能进去、高的地方、有距离的地方的涂层厚度的测量。

铁·钢等磁性金属底材上的涂层、衬层等狭小的地方、小的部位的涂层的膜厚测量。

测量方式

电磁感应式

测量范围

0～10mm

0～20mm

表示分解率

1μm：0～999μm

0.01mm:1～10mm

1μm：0～999μm

0.01mm:1～5mm

0.1mm:5～20mm

测量精度

（平滑面）

0～3mm：±（5μm＋显示值的3%）

3.01mm：显示值的±3%

探测部

1点定压接触式

V形口套头

φ18×47mm

1点定压接触式

V形口套头

φ35×59mm

选择产品

—

—

附属品

标准校正片、试验用零校正板（铁用）

测量对象

铁·钢等磁性金属底材的比较厚的涂层用

铁·钢等磁性金属底材上的厚涂层用

测量方式

涡电流式

测量范围

0～2.00mm

0～600μm

0～8mm

表示分解率

1μm：0～999μm

切换

0.1μm：0～400μm

0.5μm：400～500μm

0.01mm:1.00～2.00mm

1μm：0～600μm

切换

0.1μm：0～400μm

0.5μm：400～500μm

1μm：0～999μm

0.01mm：1～8mm

测量精度

（平滑表面）

0～100μm:±1μm

又或者时显示值的

±2%以内

101μm～2.00mm：

±2%以内

0～100μm:±1μm

又或者时显示值的

±2%以内

101μm～600μm：

±2%以内

0～100μm:±1μm

±（±1μm＋显示值的±2%）

101μm～8mm：

±2%以内

探测部

1点定压接触式

V形口套头

2.0：φ13×47mm

2.0L：18×23×67mm

1点定压接触式

V形口套头

φ11×48mm

1点定压接触式

V形口套头

φ35×61mm

选择产品

V形套头/-

－

－

附属品

标准校正片、试验用零校正板（非铁用）

测量对象

铝、铜等非磁性金属底材

上的绝缘性皮膜等一般普

通测量物用。

铝、铜等非磁性金属底

材上的绝缘性皮膜等

细小的圆棒、细管、小

物件等的高安定性用。

铝、铜等非磁性金属

底材上的绝缘性皮膜等

比较厚的测量物用。