JSM-IT300 日本电子SEM扫描电子显微镜JSM-IT300

日本电子SEM扫描电子显微镜JSM-IT300经过改进照射系统、真空系统和信号处理系统，不仅能观察高质量的图像，还能利用触控屏和快速样品台进行高通量的直观操作。

高品质的图像

日本电子SEM扫描电子显微镜JSM-IT300通过改进电子光学系统，使图像质量更高，成像和分析更快。

减少了充放电现象

新的扫描方式能抑制非导电性样品的荷电效应。

低真空模式(LV)

低真空压力范围从10 Pa 至 650 Pa，拓宽了可以观察的样品材料的范围。

多功能：
 

大型样品室和样品台

能容纳大型、较重的样品，可装载zui大尺寸为200 mm（φ）× 80 mm（ H）、重达2 kg 的样品。

*几何设计的分析接口

多个接口可以安装EDS、EBSD 和WDS 等附件， EDS 和EBSD 处于同一平面，此外，还能安装两个相隔
180 度的EDS 检测器用于高通量的显微分析。

移动迅速的样品台

新开发马达驱动样品台能快速地定位 ( 与其它JEOL 的产品相比快1.5 倍）。

全自动5 轴马达驱动样品台

采用了机械对中、五轴（X、 Y,、Z、T、R) 异步马达控制的样品台，当观察厚样品或当感兴趣区域(ROI)
不在倾斜轴的中心时，可利用标配的计算机控制的全对中倾斜和旋转校正功能。

全新的真空系统

全新的真空系统缩短了样品交换后抽真空的时间，使低真空模式下的信号更好。


直观的操作：

触摸屏界面

新设计和开发的图形用户界面（GUI）使操作更加舒适，还能支持触摸屏操作。 用户界面的大小可以调节，因此在分析或数据处理时，可以优化工作空间。
 

多用户、多任务

多用户登录功能，可用于自定义工作区和样品条件的设置。

支持多语言

用户界面语言可以在日语和英语间切换( 通过图标选择)。