总硫分析仪

总硫分析仪采用紫外荧光法测定原理。样品被引入到高温裂解炉后，样品发生裂解氧化反应。在1000℃左右的高温下，样品被*气化并发生氧化裂解，其中的硫化物定量地转化为二氧化硫。反应气由载气携带，经过膜式干燥器脱去其中的水份，进入反应室。二氧化硫受到特定波长的紫外线照射，吸收这种射线使一些电子转向高能轨道。一旦电子退回到它们的原轨道时，过量的能量就以光的形式释放出来，并用光电倍增管按特定波长检测接收，发射的荧光对于硫来讲*是特定的并且与原样品中硫的含量成正比。再经微电流放大器放大、计算机数据处理，即可转换为与光强度成正比的电信号，通过测量其大小即可计算出相应样品的含硫量。 
 

总硫分析仪技术参数：
  　  测量范围：0.1mg/L～10000mg/L ~百分含量
    温度范围：室温～1100℃
  　控温精度：±2%
  　重复性误差：0.2mg/L≤X≤1.0mg/L，    ≤±0.2mg/L
                1.0mg/L＜X≤10mg/L，    Cv≤±10%

                10mg/L＜X               Cv≤±5%

选配相应的进样系统可分析固体，液体，气体等不同状态样品。
 　仪器成套性：主机（数据采集、控制系统）、裂解炉、进样器、计算机（含操作软件）、打印机等。

特　　点：
  　 Windows操作平台，人机对话，操作便捷。
  　微电流检测采用国内*硫检测器，使仪器具有灵敏度高、噪声低、线性范围宽、抗*力强等优点，是国内*的总硫含量分析仪.

    仪器风扇由裂解炉温度自动控制，分析完成后不需有人值守！

样品气自动加热技术，防止样品气被水吸附在气路管壁上。

标样校正可采取单点校正或多点校正，方便、快速、准确。

 采用流行电路和进口器件，整机性能优于国内同类产品。