Hobson Surtronic S116 泰勒Taylor粗糙度仪信息

泰勒Taylor粗糙度仪信息
表面粗糙度测量仪Surtronic S-116广泛使用于各种生产企业，尤其是精密轴承、汽车以及航天工程，Surtronic S-116粗糙度测量仪的关键性能，对精密行业的质量控制能够发挥重要的作用。

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泰勒Taylor粗糙度仪信息

英国泰勒霍普森型Surtronic S-116粗糙度参数分析能力：
标准：ISO 4287, ISO 13565-1, ISO 13565-2, ASME 46.1, JIS 0601, N31007
ISO基本：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max
ASME:Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda
JIS:Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc
其他:R3z (Daimler Benz)

英国泰勒霍普森Surtronic S-116粗糙度测量仪测针测杆常见类型：
标准传感器：适用于常规表面粗糙度测量。
小孔传感器：适用于小孔、凹槽和狭窄表面上的常规测量。
窄测针：用于测量 O 型环槽和狭窄凹槽，测量深度可达 5.5mm (0.22in)。
直角型传感器：用于与移动方向成直角的测量。
斧型传感器：用于沿锋利的边缘或线进行测量。不适用于平面测量。
侧滑传感器：用于曲面测量，例如，齿轮齿面测量。
靴型传感器：用于测量粗糙的表面，特别是取样长度为2.5mm (0.1in) 的表面。
凹槽传感器：用于测量深凹槽。编号 PK-06 5
μm针尖半径，测量深度为5.7 mm。编号 PK-08 5μm针尖半径，测量深度为25 mm。