重庆高低温设备自贡高低温试验箱设备
P系列代表的是采用Q8-902中英文彩色触摸屏式人机界面(画面对谈式)电脑控制的可程式恒温恒湿试验箱.可选配USB曲线记录,数据储存装置.
宏展拥有一个专业从事环境试验设备研发的科研机构，具备成熟的环试研制手段与试验室，聚集了行业内一批优秀的各类人才和专家，强大的研发团队着国内环试技术发展方向．现目前，公司具有自主知识产权的高低温试验箱、高低温湿热试验箱、快速温度变化试验箱、冷热冲击试验箱、三综合试验箱、高低温低气压试验箱、太阳辐射试验箱、工业烤箱以及步入式高低温湿热试验箱和高风速淋雨试验箱等气候环境试验设备及订制产品处于国内、*水准！
重庆高低温设备自贡高低温试验箱设备执行与满足标准
1.GB/T10589-1989低温试验箱技术条件；
2.GB/T10586-1989湿热试验箱技术条件；
3.GB/T10592-1989高低温试验箱技术条件；
4.GB2423.1-89低温试验Aa，Ab ；
5.GB2423.3-93（IEC68-2-3）恒定湿热试验Ca；
6.MIL-STD810D方法502.2；
7.GB/T2423.4-93（MIL-STD810）方法507.2程序3；
8.GJB150.9-8 湿热试验；
*温度控制
可实现温度定值控制和程序控制；
全程数据记录仪（可选功能）可以实现试验过程的全程记录和追溯；
每台电机均配置过流（过热）保护/加热器设置短路保护，确保了设备运行期间的风量及加热的高可靠性；
USB接口、以太网通讯功能，使得设备的通讯和软件扩展功能满足客户的多种需要；
采用流行的制冷控制模式，可以0%~*自动调节压缩机制冷功率，较传统的加热平衡控温模式耗能减少30%；
制冷及电控关键配件均采用产品，使设备的整体质量得到了提升和保证；
标准内容积(升) | 80L | 225L | 408L | 1000L | 80L | 225L | 408L | 1000L | 80L | 225L | 408L | 1000L | ||||||
性能 | 温度范围 | -20→+150℃ | -40→+150℃ | -70→+150℃ | ||||||||||||||
| 温度波动度 | ± 0.5℃ | ||||||||||||||||
| 温度偏差 | ± 0.2℃ | ||||||||||||||||
| 升温时间 | -20→+150℃ | -40→+150℃ | -70→+150℃ | ||||||||||||||
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| ≤60min | ||||||||||||||||
| 降温时间 | +20→-20℃ | +20→-40℃ | +20→-70℃ | ||||||||||||||
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| ≤45min | ≤60min | ≤80min | ||||||||||||||
此款产品不带湿热，如需湿热，我们有具体的参数规格，请致电，我们公司是自制研发公司，与*结合，我们在行业内十余年得到了客户的认可，更希望您也能认可我们，您的选择也是给我们一个机会，同时您也多一个抉择。
高低温试验箱设备参考标准：
MIT-STD-883E Method 1011.9
JESD22-B106
EIAJED- 4701-B-141
* TCT与TST的区别在于TCT偏重于package 的测试，而TST偏重于晶园的测试
⑦HTST: 高温储存试验（High Temperature Storage Life Test ）
目的: 评估IC产品在实际使用之前在高温条件下保持几年不工作条件下的生命时间。
测试条件: 150℃
失效机制：化学和扩散效应，Au-Al 共金效应
参考标准:
MIT-STD-883E Method 1008.2
JESD22-A103-A
EIAJED- 4701-B111
⑧可焊性试验（Solderability Test ）
目的: 评估IC leads在粘锡过程中的可靠度
测试方法:
Step1：蒸汽老化8 小时
Step2：浸入245℃锡盆中 5秒
失效标准（Failure Criterion）：至少95％良率
具体的测试条件和估算结果可参考以下标准
MIT-STD-883E Method 2003.7
JESD22-B102
⑨SHT Test:焊接热量耐久测试（ Solder Heat Resistivity Test ）
目的: 评估IC 对瞬间高温的敏感度
测试方法: 侵入260℃ 锡盆中10秒
失效标准（Failure Criterion）：根据电测试结果
具体的测试条件和估算结果可参考以下标准
MIT-STD-883E Method 2003.7
EIAJED- 4701-B106
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