纳米焦点DR检测系统 超高分辨率纳米焦点DR检测系统 修改
参考价 | ¥ 8000000 |
订货量 | ≥1 |
具体成交价以合同协议为准
- 公司名称 上海恩迪检测控制技术有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型号 纳米焦点DR检测系统
- 产地 上海
- 厂商性质 经销商
- 更新时间 2018/5/16 11:40:23
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超高分辨率纳米焦点DR检测系统
关键特征:
- 190kV/225kV/240kV穿透型高分辨率纳米焦点射线
- JIMA卡空间分辨率测试可达0.5微米
- 支持多种平板探测器,探元大小可选50微米/100微米/139微米/200微米
主要技术规格:
微米焦点射线管 | 类型 | 穿透型纳米焦点射线管 |
zui大管电压 | 190kV/225kV/240kV | |
冷却 | 封闭式自循环冷却 | |
焦点大小 | 0.5微米(采用JIMA卡测试) | |
探测器 | 类型 | 非晶硅平板探测器 |
像素大小 | 100um /127um /139um/200um | |
像素数量 | 平板探测器:>2048′2048 | |
机械系统 | 类型 | 高精度机械系统 |
zui大有效检测范围 | 可定制化 | |
zui大承重 | 可定制化 | |
旋转 | nx3600 | |
软件 | 类型 | 二维射线检测 |
软件功能 | 系统控制、二维射线检测、平板探测器校正、图像处理、灰度分析、图像滤波、测量功能、支持定制化软件功能 |