SKP5050 开尔文探针表面光电压谱仪
- 公司名称 上海埃飞电子科技有限公司
- 品牌
- 型号 SKP5050
- 产地 英国
- 厂商性质 代理商
- 更新时间 2016/5/30 15:21:26
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开尔文探针(Kelvin Probe)是一种非接触无损震荡电容装置,用于测量导体材料的功函数(Work Function)或半导体、绝缘表面的表面势(Surface Potential)。
材料表面的功函数通常由zui上层的1-3层原子或分子决定,所以开尔文探针是一种zui灵敏的表面分析技术。
我们的开尔文探针系统包括:
□单点开尔文探针(大气环境及气氛控制环境);
□扫描开尔文探针(大气环境及气氛控制环境);
□超高真空(UHV)开尔文探针;
□湿度控制的腐蚀开尔文探针;
扫描开尔文探针系统 (ASKP)
ASKP系统是一款可以被大多数客户所接收的扫描开尔文探针系统,它是在SKP基础之上包括了彩色相机/TFT显示器、2毫米和50微米探针、外部数字示波镜等配置,其规格如下:
□2毫米,50微米探针;
□功函数分辨率 1-3 meV(2毫米针尖),5-10 meV(50微米针尖);
□针尖到样品表面高度可以达到400纳米以内;
□表面势和样品形貌3维地图;
□探针扫描或样品扫描选配;
□彩色相机、调焦镜头、TFT显示器和专业的光学固定装置;
□参考样品(带相应的扫描开尔文探针系统的形貌);
□备用的针尖放大器;
□24个月超长质保期;
仪器的特色
□*台商用的*意义上的开尔文探针系统;
□zui高分辨率的功函数和表面势,的稳定性和数据重现性;
□非零技术(Off-null,ON) ——ON信号探测系统在高信号水平下工作,与基于零信号原理(null-based,LIA)的系统相比,不会收到噪声的影响拥有高灵敏度;
□高度调节技术 ——我们的仪器在测量和扫描时可以控制针尖的高度。因为功函数受样品形貌的影响,针尖与样品表面距离的调节意味着数据的高重现性且不会漂移;
□该领域内,拥有的信噪比;
□快速响应时间 ——测量速度在0.1-10秒间,远快于其他公司产品;
□功能强的驱动器 ——选用Voice-coil(VC)驱动器,与通常的压电驱动器相比,VC驱动器频率要稳定得多、控制的针尖振幅大得多、支持平行多探针操作、支持不同直径探针操作;
□所有开尔文探针参数的全数字控制;