仪电物光X-4A显微熔点仪技术参数
熔点测量范围:室温至320℃
测量重复性:±1℃ (在<200℃ 时)
±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 时)
温度显示zui小值:0.1℃
熔点观察方式 单目显微镜
光学放大倍数 40×
仪电物光X-4A显微熔点仪测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。
现在熔点仪有许多种类,顾客可以根据自己的需要与经济能力来选择自己合适的机型。
以上信息来自重庆科晓仪器有限公司,详情请登录:www.cqkexiao。。com
如果您对的信息有什么疑问,请与该公司进行进一步,获取的更多信息。
请参阅:http://www.cqkexiao。。com/html/2015/rongdianyi_1016/1053.html