XTOM 西交大XTOM三维光学面扫描系统

XTOM三维面扫描系统基于双目立体视觉原理，采用的外差式多频相移三维光学测量技术，单幅测量幅面大小（从30毫米到1米）、测量精度、测量速度等性能都达到水平，与传统的格雷码加相移方法相比，测量精度更高，单次测量幅面更大、抗*力强、受被测工件表面明暗影响小，而且能够测量表面剧烈变化的工件，可以扫描测量几毫米到几十米的工件和物体。广泛适用于各种需求三维数据的行业，如汽车工业、飞机工业、摩托车外壳及内饰、家电、雕塑等。

功能特色：

       ?扫描预览，实时跟踪标志点
       ?针对不同幅面的标定板，灵活的相机标定
       ?坐标转换功能，321坐标转换功能
       ?具备点距测量功能
       ?多种后处理功能：点于精确匹配、重叠面自劢融合等
       ?多种元素拟合功能：点、线、面、球、囿柱、囿锥等
       ?多种偏差分枂功能：点偏差、距离偏差、角度偏差等采用
       ?单幅扫描获得130~400万的点，扫描计算时间3~6秒
       ?强大的自劢拼接和重叠面自劢删除功能
       ?具备光学探针功能
       ?支持WIN7 64位操作系统，多线程运算，计算速度更快。