X射线荧光分析仪_SPECTRO XEPOS

产品名称： X射线荧光分析仪_SPECTRO XEPOS

产品型号： SPECTRO XEPOS

制造厂商：德国斯派克

经销商： 北京卓信博澳仪器有限公司

SPECTRO XEPOS X射线荧光分析仪简介

X射线荧光分析仪_SPECTRO XEPOS可配置10个固定分光道，可同时分析10种元素。根据用户的应用要求可配置为从Na到U的任意十种元素。配有预先安装好的应用包，包括：在工厂预先校正好的各种硬件和分析方法。适合分析：土壤、污泥、油中添加剂、水泥、炉渣、耐火材料、电子元器件RoHS检测等。

SPECTRO XEPOS X射线荧光分析仪特点

使用非常方便，可以对粉体样品或块样品快速，非破损分析。采用多路高速MCA并行实时检测各元素谱峰，不仅便于调试仪器和故障诊断，而且有利于提高仪器稳定。

SPECTRO XEPOS X射线荧光分析技术指标

恒温室温度控制精度：设定值±0.1℃。

分析元素种类：从Na到U的任意十种元素。

分析方法：经验系数法和理论α系数法。

交流220V供电设备：1KVA交流净化稳压电流。

高压电源：200W(50KV4mA)。

管压管流12小时稳定度：优于0.05%。

真空泵：两相～220V、2升。

工控微机：工控104微机。

分析精度：σn-1(24小时，百分比含量)≤0.05%。

单个样品测量时间：(含换样抽真空时间)≤3～5分钟。

X 射线管：Varian公司生产的400W薄铍窗端窗X射线管，Rh靶(Pd靶可选)。

探测器：流气正比探测器+封闭正比探测器，10路1024道独立脉冲高度分析器。

真空系统：独立泵站结构，易于维护。

测量室zui高真空度：低于5Pa。

流气系统：高精度流气密度稳定装置，压力稳定度达到±0.003KPa。

分析软件：备有经验系数法和理论α系数法两种定量分析方法，采用全谱检测技术，实现了各道谱线的即时跟踪和校正，从而大大提高了定量分析的重现和长期稳定，同时也提供了诊断仪器工作状态的直观依据。完善的自诊断措施。内置了 RS-232串行通讯协议，TCP/IP协议与DCS或QCS系统共享数据。

SPECTRO XEPOS X射线荧光分析应用领域

建材(水泥、玻璃、陶瓷)

冶金(钢铁、有色金属)

石油(微量元素S、Pb等)

化工

地质采矿

商品检验

质量检验

人体微量元素的检验