DM 1230 X荧光铝硅分析仪

DM 1230型X荧光铝硅分析仪

主要用于测量生料、熟料和水泥等物料中Al2O3、SiO2的含量。与传统的铝硅分析方法不同，它采用能量色散X射线荧光（EDXRF）分析方法，具有分析速度快、精度高、人为误差小、操作工劳动强度低、无污染等特点，且只需一次性投资，不需要任何化学试剂。目前国内大多数水泥企业已使用X荧光钙铁分析仪来测量生料等物料中CaO、Fe2O3的含量，但Al2O3、SiO2含量的测量却很少是用X荧光分析仪的，而Al2O3、SiO2含量的即时准确得到与CaO、Fe2O3对水泥生产的质量控制同样重要，只有同时即时准确得到这四个氧化物的含量才能真正实现生料的率值控制。

2014款DM 1230型X荧光铝硅分析仪除保持了原有DM系列X荧光分析仪所具有的外形美观、一体化、不含同位素放射源，连续测量标准样法、数据储存能力大等优点外，进行了以下重大改进：

    (1) 大屏幕彩色触摸式液晶屏代替原黑白液晶屏和键盘，改善了用户的操控体验。

    (2) 新的大规模集成电路CPU代替原老的如80C31等CPU，没有数据总线与外部设备或外部芯片直接连接，*地提高了系统的可靠性，基本消灭了死机现象。

    (3) 用贴片电路代替原立式电路，减少了电路板的面积，并能大规模机械化生产，*地提高了硬件的可靠性，使仪器的返修率降到zui底。

    (4) 用热敏打印机代替了原来的针打印机。

(5) 用设计的采用CPLD，FPGA，DSP等技术的多道脉冲幅度分析器及可变增益放大器代替原单道脉冲幅度分析器及固定增益放大器，*地提高了仪器的*稳定性。

主要技术指标

    1.分析范围：Al2O3、SiO2分析范围均可调节，通过标定工作曲线的方法选定。

    2.分析范围宽度：Al2O3max—Al2O3min≤5%，SiO2max—SiO2min≤7%。

    3.线性误差：Al2O3：±0.14%，SiO2：±0.14%。

    4.系统分析时间：100秒、200秒、300秒，可选。

    5.分析精度：SAl2O3≤0.07%，SSiO2≤0.07%。

    6.温度稳定性：在5~+40℃范围内，漂移：∣△Al2O3∣≤0.07%,∣△SiO2∣≤0.07%。

    7.使用条件：环境温度：5~+40℃，相对湿度：≤85%(30℃)，供电电源：220V±20V，50Hz。

    8.整机功耗：≤50W。

    9.尺寸及重量：470mm×365mm×130mm，15kg。