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化工仪器网>产品展厅>物理特性分析仪器>表面/界面性能测定仪>比表面及孔径分析仪>F-Sorb2400 全自动比表面仪

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F-Sorb2400 全自动比表面仪

参考价 ¥ 68500
订货量 ≥1
具体成交价以合同协议为准

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F-Sorb X400系列4站比表面积测试及介孔径分布孔容孔隙率测量仪是目前国内同类产品中**自动化,智能化的产品,2008年、2009年和2010年连续3年国内市场销量*,众多*科研院所及500强企业应用案例. V-Sorb 2800 Series系列全自动智能比表面积测定微孔结构分布总孔体积孔隙度分析仪是金埃谱科技自主研发的比表面积及孔径检测仪器,采用静态容量法测量原理.相比国内同类产品,多项*技术的采用使产品整体性能更加完善,测试结果的准确性和*性进一步提高,测试过程的稳定性更强,达到同类产品*水平,部分功能超越国外产品.

金埃谱科技是国内Z早参与比表面积标准物质标定的机构,测试结果与国外数据可比性平行性较好,并获取认证机构的检测证书,同时金埃谱科技也是国内同行业中现金注册资本规模较大,*通过ISO9001质量认证的生产型企业,雄厚实力和完善的质量及服务体系,让您选购的产品无后顾之忧!

北京金埃谱科技是北京市*,位于我国*的高校云集,中科院研究院所汇聚的北京*产业区-中关村.公司起源和服务于中国兵器系统行业,依托当地人才资源和兵器系统技术优势,致力于科学分析仪器的研发,生产及销售.以创立兵器和民用行业国有为发展宗旨,通过与兵器系统密切合作,同时借鉴*进技术,研发具有自主知识产权的自动化及智能化检测仪器,为我国科研单位及生产企业提供与产品接轨,高可靠性,高性价比的*科研设备.目前主要产品有V-Sorb 2800 Series系列全自动智能BET法比表面积测定微孔结构分布总孔体积孔隙度分析仪,F-Sorb X400系列4站BET比表面积测试及BJH介孔径分布孔容孔隙率测量仪.

秉承兵器行业高标准,严要求的技术宗旨,并适应新形势下市场发展需求,倡导和坚持"技术为先,服务为本"的发展理念,我们为客户不仅仅提供高质量的产品,同时更注重高效的服务.公司拥有深谙业内需求,了解*技术的研发团队及跨行业技术咨询专家,为研发具有*水平产品提供强大的技术支持.目前已建立起严格的产品质量保证和完善的售后服务体系,确保产品符合标准,服务更具本地特色,使V-Sorb 2800 Series系列全自动智能BET法比表面积测定微孔结构分布总孔体积孔隙度分析仪和F-Sorb X400系列4站BET比表面积测试及BJH介孔径分布孔容孔隙率测量仪.两大系列产品品牌和公司信誉得到了客户的高度认可和普遍赞誉,在同行业中处于*地位.

全自动智能比表面积仪及中孔微孔分布测试仪,BET法比表面仪,比表面积测试仪,氮吸附比表面积测定仪,比表面检测仪,比表面测量仪,比表面积检测仪,介孔微孔分布测定仪,比表面积测量仪,BET比表面积分析仪,比表面测定仪,比表面测试仪,BET比表面分析仪,孔容积测定仪,孔径分析仪,孔径检测仪,孔径测量仪,孔径分布测定仪,孔隙度分析仪,介孔微孔分布分析仪,孔容积分析仪,孔径分布检测仪,孔径分布测量仪,孔隙率测定仪,孔隙率检测仪,孔隙率测量仪,孔容测试仪,孔结构分析仪,孔径测定仪,孔隙度检测仪,孔隙度测量仪,平均孔径测试仪,介孔微孔分布测量仪,孔结构检测仪,孔结构测量仪,总孔体积分析仪,孔容积测试仪,孔体积分析仪,孔体积检测仪,孔体积测量仪,平均孔径测定仪,孔隙率分析仪,孔径测试仪,孔径分布测试仪,孔容检测仪,孔容测量仪,总孔体积测定仪,介孔微孔分布检测仪,孔体积测试仪,平均孔径分析仪,总孔体积检测仪,总孔体积测量仪,孔隙度测定仪,孔径分布分析仪,平均孔径检测仪,平均孔径测量仪,孔结构测定仪,总孔体积测试仪,孔隙率测试仪,孔结构测试仪,孔容分析仪,孔体积测定仪,孔隙度测试仪,孔容测定仪等是粉体和颗粒材料的比表面积及孔径(孔隙度)分布的检测分析仪器,适用于吸附剂(如活性碳,硅胶,活性氧化铝,分子筛,活性炭,硅酸钙,海泡石,沸石等);陶瓷原材料(如氧化铝,氧化锆,硅酸盐,氮化铝,二氧化硅,氧化钇,氮化硅,石英,碳化硅等);橡塑材料补强剂(如炭黑,白碳黑,纳米碳酸钙,碳黑,白炭黑等);电池材料(如钴酸锂,锰酸锂,石墨,镍钴酸锂,氧化钴,磷酸铁锂,钛酸锂,三元素,三元素材料,聚合物,聚合物材料,聚合物电池材料,碱锰材料,锂离子材料,锂锰材料,碱性材料,锌锰材料,石英粉,镁锰材料,碳性材料,锌空材料,锌汞材料,乙炔黑,镍氢材料,镍镉材料,隔膜,活性物资,添加剂,导电剂,缓蚀剂,锰粉,电解二氧化锰,石墨粉,氢氧化亚镍,泡沫镍,改性石墨材料,正极活性物质,负极活性物质,锌粉等);金属氧化物(如氧化锌,氧化钙,氧化钠,氧化镁,氧化钡,氧化铁,氧化铜等);磁性粉末材料(如四氧化三铁,铁氧体,氧化亚铁等);纳米金属材料(如纳米银粉,铁粉,铜粉,钨粉,镍粉,铝粉,钴粉等);环保行业(如颜填料,柱填料,无机颜料,碳酸钙,氧化硅,矿物粉,沉积物,悬浮物等);无机粉体材料(如氧化钛,钛白粉,二氧化钛等);纳米材料(如纳米粉体材料,纳米陶瓷材料等);稀土,煤炭(粉煤灰),水泥(矿渣粉),储能材料,催化剂(硅藻土),净化剂,助滤剂,土壤,黏土,石油断裂剂,发光稀土粉末材料(荧光粉),粉体材料,粉末材料,超细纤维,多孔织物,复合材料等粉体和颗粒材料的比表面积及孔径的检测分析,广泛适用于高校及科研院所材料研究和粉体材料生产企业产品质量监控.

比表面仪,比表面积仪,比表面积测试仪,比表面积测定仪,比表面积分析仪,比表面测定仪,比表面测试仪,比表面分析仪,孔径分析仪,孔径分布测试仪和孔隙度测定仪

比表面仪F-Sorb 2400是目前国内同类产品中**自动化,智能化的BET法比表面测量仪器,2008年、2009年和2010年连续3年国内市场销量*,众多*科研院所及500强企业应用案例,由金埃谱科技与兵器系统合作研发,秉承兵器行业高标准,严要求的技术宗旨,依据经典测定比表面理论和原理,采用国内外通用测定比表面方法,符合测定比表面标准,显著提高产品稳定性和使用寿命,测试结果更准确,操作简单快捷,大大降低测试人员工作量.比表面仪V-Sorb 2800S是金埃谱科技自主研发的全自动智能化比表面积检测仪器,采用静态容量法测量原理.相比国内同类产品,多项*技术的采用使产品整体性能更加完善,测试结果的准确性和*性进一步提高,测试过程的稳定性更强,达到同类产品*水平,部分功能超越国外产品.

金埃谱科技是早参与比表面积标准物质标定的机构,测试结果与国外数据可比性平行性,并获取认证机构的检测证书,同时金埃谱科技也是国内同行业中现金注册资本规模zui大,*通过ISO9001质量认证的生产型企业,雄厚实力和完善的质量及服务体系,让您选购的产品无后顾之忧!

全自动比表面仪性能参数

测试方法:BET法比表面(多点及单点)检测,Langmuir比表面检测,炭黑外比表面积检测,平均粒径估算,直接对比法比表面检测,氮吸附连续流动法,样品吸附常数C测定

测试功能:F-Sorb智能化测试模式,无人干预全自动测试,消除人为操作误差,提高测试精度

测量范围:0.01(㎡/g)--至无上限(比表面积)

流量调节:F-Sorb*技术,微型步进电机流量调节系统,实现流量的精确调节,真正实现流量调节的自动化

定量标定:F-Sorb型定量管脱附系统,软件自动控制实现定量管气路切换,无需人工手动操控定量开关阀,提高定量标定精度和实现自动化

控制系统:*的集中的多功能控制系统,能实现测试过程的*自动化及智能化,测试期间无需任何人工干预,仪器自动执行测试

样品数量:可同时进行4个样品的吸附或脱附测定,样品测试系统和样品处理系统相互独立,并且样品测试和样品处理可以同时进行,避免了测试管路受到污染,从而进一步确保测试的精度和提高仪器使用寿命

测试压力:常压下进行,无需抽真空,有利于快速的比表面检测

测试精度:测量重复性误差≤1.5% 

样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等,适用于几乎所有样品比表面检测,应用广泛 

测试气体:载气为高纯He气(99.99%),吸附质为高纯N2(99.99%)或其它(按需选择如Ar,Kr)

管路密封:采用高真空系统不锈钢管路,高密封性能,有效防止气体分子渗透导致的比表面检测误差;同时不锈钢管不存在老化问题,大大提高仪器稳定性和使用寿命

测试时间:每样品每 P/P0点吸附和脱附平均时间为5分钟(视样品吸附特性变化),四个样品分析平均时间20分钟左右(同时可测四个样品),比表面积结果自动由软件实时得出

数据采集:高精度及高集成度数据采集及处理芯片,误差小,抗*力强

数据处理:BET单点及多点线性拟合图,图形化数据分析结果报表,可根据需要选择中英文格式结果报表.分析与数据处理可同时进行,检测结果实时显示,详细的自动操作步骤记录及数据随测试结果文件保存

全自动比表面仪特点

A.比表面仪结构设计

1)简洁紧凑的外观结构设计,节省空间;可拆卸前面板防护罩,有效防止液氮溅洒安全隐患,同时降低环境因素对比表面检测过程的影响

2)采用全不锈钢管路系统,提高密封性能,有效防止气体分子渗透导致的比表面检测误差;同时不锈钢管不存在老化问题,可靠性和寿命大大提高

3)模块化结构设计,有利于根据用户比表面检测需求按需配置及后期功能扩展

B.比表面仪控制系统

1)采用*的控制技术,集中的多功能控制系统,一体化电机螺杆升降系统,比表面检测过程中液氮容器升降更平稳

2)*的电桥平衡电路,大幅提高信号电压灵敏度,同时实现信号零点漂移自动平衡,有利于实现比表面检测的自动化

3)完整的自动化操作设计,*实现比表面检测过程智能化,无需人工干预或看守,大大降低测定人员工作量,提高工作效率

C.比表面仪数据采集及处理

1)高精度数据采集、信号放大及A/D转换系统高度集成化,抗*力强,实时性高,有利于降低比表面仪的比表面检测过程受环境因素的影响

2)自主开发的Windows兼容数据处理软件,功能完善,用户界面灵活定制,操作简单易懂;*的比表面数据处理模型,有效消除系统误差,提高比表面检测精度

3)数据报告按需定制,多种形式的数据分析模式,方便用户研究比表面检测结果;强大的分析测试数据归档保存,查询系统,有利于用户数据管理

D.比表面仪测试优化

1)针对不同范围样品比表面检测要求,可"因地制宜"选择合适的仪器参数设置,有利于提高比表面测试结果的准确度

2)灵活的直接对比法比表面检测与BET法比表面检测转换,简化操作流程,提高比表面测试效率



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