XGT-5200 X射线分析显微镜

概要

       台式XGT - 5200系统搭载*的X射线导管，允许高空间分辨率的X射线荧光分析--从1.2毫米到10微米。无需任何样品制备或真空--样品仅需要放置在样品室中，即可在正常大气压力下分析。*整合的软件可控制样品的移动，获取数据分析（包括定性和定量分析，并生成成分组成图像）。将样品放在样品祥中后，只需几秒钟，借助直观的“point and click”选择分析位置，即开始抓取数据。

       样品观察采用同轴几何呈象，可消除视差，您可以相信，看到的样品即是测量的位置。

       仪器装载了两个X射线管，从而使用户能够简单地切换显微和宏观光束，可适用于一系列实验。这些光管传递的高强度光斑确保了zui低的数据获取时间。而光管的单毛细管设计非常适合高强度的元素成像，甚至对于不平整样品同样有效。

       通过自动采样扫描很容易获得XRF面扫描图像，样品下方的第二次信号检测能同时收集X射线透射图像。这项技术可提供额外的结构信息，极有利于对兴趣区域的定位，或了解样本的内部结构。

特征

• zui高的空间分辨率

         HORIBA*的X射线光管技术提供高空间分辨率微区XRF分析，X射线光斑直径小到10微米。这种zui高强度的超细光斑，可进行快速无损的微细结构分析。

• X射线透射成像

             结合XRF成像， XGT–5200可抓取透视图像。这可被用来进行内部结构分析，定性那些眼睛不可见的区域。用垂直束窄扫描完成后，得到清晰穿透图像甚至非平面样品，如圆筒形部件。

• 完整地分析整个样品

         该样品室可以容纳广泛的样品进行分析，从10 μm的微区功能的点分析，到10cmX10cm大面积分析。

• 整合数据采集和分析的操作软件

           直观的软件可以轻松地控制仪器硬件，快速采样的可视化和选择测量区域，全面的数据分析。功能包括自动峰识别，定量测量， RGB图像生成，线剖面分析。