X-4 显微熔点仪

X-4显微熔点仪特点
1. 本仪器使用毛细管法进行测量。
2. 根据特殊要求，本仪器也可用载波片——载波片法进行测量。
3. 本仪器采用LED数字显示熔点温度值。
4. 本仪器采用热台控制系统和显微镜组合成一体的结构，简单可靠，使用方便。
5. 升温速率连续可调。我们建议你采用1℃/分的升温速率测量熔点的温度值，在*次使用时记录下1℃/分的升温速率时的波段开关和电位器的编号，则以后用此位置就能得到你的所要求的升温速率。并请注意（1）室温的影响；在同样波段开关和电位器的编号下，室温越低，升温速率越慢。（2）电子元件的影响：电子元件的老化，升温速率一定时，其电位器的编号会有所变化，只要进行微调即可。编号越大，升温速率越快。

主要技术参数
1.显微镜采用4倍物镜，10倍目镜
2.测量范围：室温∽320℃
3.测量精密度：室温∽200℃的误差±1℃
  200℃∽320℃的误差±2℃
4.电源220V   50HZ    功率 80W