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化工仪器网>产品展厅>物理特性分析仪器>测厚仪>涂层测厚仪>TT260A 时代恒宇测厚仪 涂层测厚仪 TT260A双探头涂层测厚仪

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TT260A 时代恒宇测厚仪 涂层测厚仪 TT260A双探头涂层测厚仪

具体成交价以合同协议为准

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时代恒宇测厚仪 涂层测厚仪 TT260A双探头涂层测厚仪 磁性非磁性都可测

简单介绍

超声波测厚仪性价比好的双探头涂层测厚仪TT260A|代替时代TT260磁性非磁性物体都可以测量跟时代TT260相比少了一个打印机 但是多了一个自带的数据线和软件可以连接电脑打印出来其他功能是一样的 但是价格要比时代的好。

超声波测厚仪性价比好的双探头涂层测厚仪TT260A|代替时代TT260磁性非磁性物体都可以测量的详细介绍


超声波测厚仪性价比好的双探头涂层测厚仪TT260A|代替时代TT260磁性非磁性物体都可以测量TT260A涂层测厚仪
采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如铬、锌、铜、铝、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)

磁性法(F型测头)当测头与覆盖层接触时,测头和磁性金属基体构成一闭合磁路,由于非磁性覆盖层的存在,使磁路磁阻变化,通过测量其变化可导出覆盖层的厚度。

●涡流法(N型测头)利用高频交变电流在线圈中产生一个电磁场,当测头与覆盖层接触时,金属基体上产生电涡流,并对测头中的线圈产生反馈作用,通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。

TT260A涂层测厚仪符合以下标准


GB/T 49561985磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法

GB/T 49571985非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法

JB/T 83931996磁性和涡流式覆层厚度测量仪

JJG 88995《磁阻法测厚仪》

JJG 81893《电涡流式测厚仪》

 

TT260A涂层测厚仪特点:

 

       ◎采用了磁性和涡流两种测厚方法,即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度;

       ◎可使用10种测头(F400F1F1/90°、F5F10N400N1N1/90°、CN02N10)

       ◎具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE);

       ◎具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(A-B)

       ◎设有五个统计量:平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(SDEV);

       ◎可采用单点校准和两点校准两种方法对仪器进行校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正;

       ◎具有存贮功能:可存贮495个测量值;

       ◎具有删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据,以便进行新的测量;

       ◎可设置限界:对限界外的测量值能自动报警;

       ◎具有电源欠压指示功能;

       ◎操作过程有蜂鸣声提示;

       ◎具有错误提示功能,通过屏显或蜂鸣声进行错误提示;

       ◎设有两种关机方式:手动关机方式和自动关机方式;

 

探头技术参数

 

测头型号 

F400

F1

F1/90

F10

N1

CN02

工作原理 

磁感应 

电涡流 

测量范围(um 

0-400

0-1250

0-10000

0-1250(铜上镀铬0-40um)

10-200

低限分辨力(um)

0.1

0.1

10

0.1

1

示值误差 

一点校准(um)

±[3%H+1]

±[3%H+10]

±[3%H+1.5]

±[3%H+1]

两点校准(um)

±[(1-3)%H+0.7]

±[(13)%H+1]

±[(13)%H+10]

±[(13)%H+1.5]

-

测量条件 

zui小曲率半径(mm)

1

1.5

平直 

10

3

平直 

基体zui小面积的直径(mm)

ф3

ф7

ф7

ф40

ф5

ф7

zui小临界厚度(mm)

0.2

0.5

0.5

2

0.3

无限制 

          

 测头选用参考表

 

覆盖层 

有机材料等非磁性覆盖层(:漆料、涂漆、珐琅、搪瓷、塑料和阳极化处理等)

非磁性的有色金属覆盖层(:铬、锌、铝、铜、锡、银等)

基体 

覆盖层厚度不超过100µm

覆盖层厚度超过100µm

覆盖层厚度不超过100µm

覆盖层厚度超过100µm

 铁、钢

被测面积的直径大于30mm

F400型测头

0400µm

F1型测头
01250µm

F400型测头0400µm

F1型测头 
0
1250µm

等磁性金属 

F1型测头 

01250µm

F10型测头 
0
10mm

F1型测头01250µm

F10型测头 
0
10mm

 

被测面积的直径小于30mm

F400型测头 

0400µm

F400型测头0400µm

F400型测头0400µm

F400型测头 
0
400µm

 

F1型测头 
0
1250µm

F1型测头 
0
1250µm

如铜 、铝 

被测面积的直径大于5mm

N1型测头01250µm

仅用于铜上镀铬N1型测头040µm

黄铜 、锌 、锡

 有色金属 

塑料、印刷线路非金属基体 

被测面积的直径大于7mm

-

-

CN02型测头10200µm

       

标准配置:

 主机1F1N1测头1,校准标准片1套(含试片5片,基体1块),电池2,通讯电缆1,



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