X射线镀层测厚仪韩国XRF-2000

X射线镀层测厚仪韩国XRF-2000

检测电子电镀,PCB板电镀,化学镀,,如镀金,镀镍,镀铜,镀银,镀钯...
可测单层,双层,多层,合金镀层

测量范围:0.03-35um

测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度
全自动台面,操作非常方便简单

X光电镀膜厚仪,提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能*,而且价钱*

同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果

甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台

可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的。可测量各类金属层、合金层厚度等。

可测元素范围：钛（Ti） – 铀（U）  原子序 22 – 92
准直器：固定种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm
综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析 统计功能

X射线镀层测厚仪韩国XRF-2000

测量镀种为：镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍，镀锌镍合金等

H型测量样品高12CM,长宽55cm

L型测量样品高3CM,长宽55cm

检测镀层厚度0.03-35um