【Axioskop 40 Pol】 蔡司偏光显微镜

【Axioskop 40 Pol】蔡司偏光显微镜

       -- 卡尔蔡司研究级偏光显微镜

应用领域

地质学，矿物学，结晶学，磁性材料，陶瓷/玻璃，高分子材料，纺织学，法医鉴定等行业的偏光研究及日常实验室应用。

一、产品描述：

Axioskop 40 Pol的技术特点

1. 线形或环形，两种类型的偏光

线偏光只能从一个特定方向看到样品结构，而环偏光可以在不转动载物台的情况下，看到各个方向的图象，有利于对岩石薄层进行彩色照相，而且有利于通过图象分析检测塑料结构或玻璃的应力。

2 .C-DIC：高反差的*技术

Axioskop 40 Pol的*技术：C-DIC ，适用于EC Epiplan-Neofluars物镜；使用方便，可以通过简单地调节旋钮来获得固定图像片段的*反差。

3. 无接触测量：新型反射光干涉仪TIC

环行双光束干涉仪能够测量物体的表面构造和粗糙度，测量范围50到5000纳米，适用于各种倍率的物镜。

4. 磁性材料模块

磁性材料在新型材料和数据存储设备中有着日益增长的重要性，在显微镜观察中，通过克尔效应成像，*次在蔡司显微镜上得以实现。

二、技术参数：

1、物镜倍数：5X 10X 20X 40X 50X 63X 100X 可选1.25X 2.5X 150X

2、目镜倍数：10X/23mm

3、物镜转盘：6孔

4、观察功能： 透射光: 偏光、正交偏光、锥光、明场、暗场、相衬、DIC

                     反射光：偏光、明场、暗场、DIC、C-DIC、荧光

5、可扩展性：可配图像分析系统（数码相机、摄像头、图像分析软件）

6、可配冷热台

7、可配显微分光光度计

厂家:德国蔡司（Zeiss Jena）光学

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