pcbX X 射线无损检测设备

X 射线无损检测设备简介：

X-eye  NF120 
120kV  Nano-focus  Open  Tube  (400nm  Focal  Spot  Size) 
  Max.  300mm(Φ)  Table  Size 
  Wafer  Bump  Auto  X-ray  Inspection 
  3D  CT  -  Ultra  Fast  GPU  Reconstruction 
  void,  short,  bridge,  过焊，漏焊，自动检出功能 
X-eye  6000AXI 
装载130KV  Micro-focus  Closed  Tube 
    (5um  Focal  Spot  Size) 
  自动检查FC  BGA 
  SW  Auto  Alignment  after  scanning  chip 
  检测项目  :  De-wet,  Open,  Short,  Big  Ball 
    (3D  CT  Auto  Inspection) 
  检出时间  :  2.5sec/ea 
  采用CT  Algorithm的Auto  Inspection  System 
X-eye  3000AH 
在线型X-Ray检测设备 
  在线型Type,Tray  to  Tray,Magazine  to  Magazine 
  在线型Type,Tray  to  Tray,Magazine  to  Magazine 
  可与生产型设备联动使用 
X 射线无损检测设备适用 
PCB  封装基板      小型Al、Mg、Zn  压铸件 
  BGA,CSP,Flip  Chip      塑料成型品 
  锂电池      锂电池 
  摄像机芯片、LCD芯片     
X-eye  9000  Series 
适用于角型锂电池的自动检测设备 
  采用Conveyoy  &  Index方式的在线型检测设备 
  Job  Chang  Free 
  每分钟高达120  cell的超高速检测  (option  150ppm,180ppm) 
  配备24小时连续工作型X射线管 
X-eye  9000  Series2 
适用于高分子锂电池和袋式电池的自动检测设备 
  采用Conveyoy  &Pick&Place方式的在线型检测设备 
  Job  Chang  Free 
  每分钟高达100  cell的超高速检测   
  配备24小时连续工作型X射线管