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荧光X线膜厚仪

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测厚仪

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可程式恒温恒湿、高低温湿热交变、冷热冲击、PCT、盐雾试验机、跌落试验机、振动试验台、破裂强度试验机、拉力试验机、UV紫外线

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特点：

中文视窗操作测量系统
解析度0．001um， zui小测量面积0．1mm。
可测量合金层之厚度和组成比例
可测量两层以上镀层之个别厚度
藉由光谱分析可判定被测物之元素
适用对象：1C导线架，封装业、PCB业、精密零
件业、电镀业、电子业。

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