XRF-2000 X荧光多层金属测厚仪
参考价 | ¥ 150000 |
订货量 | ≥1 |
- 公司名称 上海贡力电子设备有限公司
- 品牌
- 型号 XRF-2000
- 产地
- 厂商性质 经销商
- 更新时间 2017/2/23 2:06:18
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XRF2000 測厚儀測量功能 Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能*,而且价钱*.只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的*.可测量各类金属层、合金层厚度.可测元素范围:钛(Ti) – 铀(U)可测量厚度范围:原子序22-25,0.1-0.8μm26-40,0.05-35μm43-52,0.1-100μm72-82,0.05-5μmX-射线管:油冷,超微细对焦高压:0-50KV(程控)准直器:固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm自动种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm电脑系统:IBM相容,17”显示器 综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.1. 可測綠油厚度(在 Cu 或其他金屬中).方法是客戶自行準備二片不同厚度的板.先用其他方法把綠油厚度測出來.然後用此二片板做一檔案即可.誤差約15%.視乎不同厚度有所不同. 2. 可測板來料 Cu 厚度(選購件).會另配一探頭於機上.可測 0.5oz 至 4.0oz Cu 厚度. 誤差約5%.視乎不同厚度有所不同. 3. 可測溶液濃度(選購件).方法是先用 AA 機測溶液濃度.然後用此溶液做檔案即可.誤差約10%(視乎不同濃度有所不同). 4. XRF2000 可測六層.誤差大約如下:*層(5%).第二層(10%).第三層(15%).第四層(20%).第五層(25%).第六層為底材.誤差視乎不同原素不同厚度有所不同. 5. 以下是一些應用參考. 應用 XRF2000 可測範圍 Au/Ni/Cu Au 0.5-120uinch. Ni 10-400uinch. Au/Ni-P/Cu Au 0.5-120uinch. Ni-P 10-400uinch. SnPb/Cu Sn * 40-3500uinch. Sn 60% 40-1500uinch. Sn 90% 40-2000uinch. Ag/Cu Ag 4-2000uinch. Au/XX Au 0.5-320uinch Sn/Ni/XX Sn 10-350uinch. Ni 10-500uinch. Sn/XX Sn 40-2500uinch.