XRY-1 美国膜厚测试仪

美国膜厚测试仪用*的X射线技术,可高效率低成本,小型的X-射线荧光光谱仪,操作简易但功能强大,可分析元素由铝（13）到铀（92）,并且具备视像显微镜及可测量小到ppm的范围,即使是较大的测量样品也可放在XY（Z）测量台上，拾载的WinFTM v6软件,使仪器可以在没有标准片的情况下进行测量。

美国膜厚测试仪的优点
    > 采用上的、稳定性的射线源，体积小，使用寿命长，易维护。
    > 设备结构简洁、操作简单、部件更换快速、简单，便于维护。
    > 快速多点校正法技术保证了系统的*精度。
    > 快速、连续、非接触测量、实时显示高精度测量值。
    > 操作站：提供中英文操作界面（Win7）。使用的JAVA 技术。
    > 采用双放大技术和*大电离室，提升测量范围及精度。

膜厚测试仪测量技术同行15年，在同测量领域风蚤，成为膜厚仪*，精准的数据，*的技术，严格的品质要求，可靠、可信、快速的服务，及一些专业意见与技术扶持，值得您的信赖。

期待您的来电，金东霖  王R         ：29371653    公司：www.kinglinhk.com     地址：深圳宝安沙井北环大道110号新桥综合大楼502