XH-AP150半自动探针台技术标准
具体成交价以合同协议为准
- 公司名称 天津羲和阳光科技发展有限公司
- 品牌
- 型号
- 产地
- 厂商性质 生产厂家
- 更新时间 2016/6/11 3:20:40
- 访问次数 492
产品标签
联系我们时请说明是化工仪器网上看到的信息,谢谢!
半自动探针台与测试仪配接后,能自动完成对芯片的电参数测试。
技术性能:
1. 采用高性能计算机,Windows操作系统,动态显示测试过程;
2. TTL接口,IEEE488接口;
3. MAP图显示、支持大量数据存储;
4. 具有同步打点、延时打点、离线打点功能;
5. 具有编辑、矩阵、环形、圆形等多种自动测试方式;
6. 适合对光敏感器件的遮光测试。
技术指标:
性能名称 | 技术指标 | |
可测片径 | 4″、5″、6″ | |
工作台 | zui大行程 | 180mm×260mm |
定位精度 | ≤±0.015mm | |
步进分辨率 | 0.001mm | |
承片台 | Z向行程 | 8mm |
Z向定位精度 | ≤±0.005mm | |
Z向分辨率 | 0.001mm | |
θ向调节范围 | ±10 º | |
θ向分辨率 | 0.001 º | |
观察装置 | 双目体视显微镜,放大倍数7.5X~45X | |
遮光罩装置(适合对光敏感器件的遮光测试) | (选配) | |
上、下圆片方式 | 手动方式 | |
外形尺寸(宽×深×高) | 750mm×700mm×1500mm |
环境要求:
1. 电源:AC 220V±22V 50Hz±1Hz,功率:<0.8KW,真空:< -80 KPa
2. 使用环境:温度:10ºC-30ºC 湿度:<60%
设备外形: