磁栅；磁尺；磁力尺；磁栅尺；磁栅测量系统；直线磁栅；磁栅数显；非接触式测量；龙门数显；龙门数显改造；长度测量；圆磁栅；磁环；角度测量；光栅；光栅尺；光栅数显；金属光栅；开放式光栅；敞开式光栅；探针；探规；编码器；圆光栅；手脉；电子手轮；脉冲产生器；SSI数显表；SSI信号转换；信号转换器；接口界面；追剪；飞剪；飞锯；追锯；同步控制器；运动控制卡；轴控卡；多轴控制卡；数控系统；激光切割系统；水刀系统；海棉切割系统；ELGO；MKS；GIVI；JENA；GALIL；Z15；Z16；P88；P87
产品简介
应用：
直线度检测
平面度检测
几何公差测量
硅晶片的厚度测量
量块校准
直线导轨的误差测量
计量和生产控制
量块校准和测量设备的检查
多点检测设备
位置测量
产品规格
规 格：NT 12; NT 30
测量范围：12 mm; 30 mm
分 辨 率：0.05µm; 0.1µm; 0.2µm; 0.5µm; 1.0µm
移动速度：Max: 72m/min
参考点位置：上极限以下 5 ± 0.5mm 处
精度等级：±1 µm
测杆驱动方式：手 动 / 气 动
防护等级：IP 64
输出信号：1Vpp/11µApp/RS 422
电源电压：DC 5V±10%
线 长： 标准: 1.5m (Max: 30m )
产品优点
全行程测量精度高— ± 1 µm
重现性高— 0.05 µm
专为工业环境设计—防护等级IP64
结构紧凑，安装方便快捷
多种结构配置可供选择
坚固的设计—高的机械和热稳定性
为多点式测量设备特别设计
简化检测装置的构造
无需反复校准，测量*稳定
球型探头可承受较大的径向力且摩擦力很小
主要市场
半导体设备，各种需要高精度、小行程的检测设备
应用：
直线度检测
平面度检测
几何公差测量
硅晶片的厚度测量
量块校准
直线导轨的误差测量
计量和生产控制
量块校准和测量设备的检查
多点检测设备
位置测量
产品规格
规 格：NT 12; NT 30
测量范围：12 mm; 30 mm
分 辨 率：0.05µm; 0.1µm; 0.2µm; 0.5µm; 1.0µm
移动速度：Max: 72m/min
参考点位置：上极限以下 5 ± 0.5mm 处
精度等级：±1 µm
测杆驱动方式：手 动 / 气 动
防护等级：IP 64
输出信号：1Vpp/11µApp/RS 422
电源电压：DC 5V±10%
线 长： 标准: 1.5m (Max: 30m )
产品优点
全行程测量精度高— ± 1 µm
重现性高— 0.05 µm
专为工业环境设计—防护等级IP64
结构紧凑，安装方便快捷
多种结构配置可供选择
坚固的设计—高的机械和热稳定性
为多点式测量设备特别设计
简化检测装置的构造
无需反复校准，测量*稳定
球型探头可承受较大的径向力且摩擦力很小
主要市场
半导体设备，各种需要高精度、小行程的检测设备
原厂：www.numerikjena.de
采购中心
化工仪器网