CF213-25 超平有孔碳支持膜C-flat（低温透射电镜用）

超平有孔碳支持膜C-flat™（低温透射电镜用支持膜）

      C-flat™是蕞适于低温透射电镜（cryo-TEM）用的一种新款多孔碳支持膜。C-flat™具有超平的表面；有孔的碳膜被覆在透射电镜的铜网上。C-flat™采用整体制造工艺，到达客户手中的产品保证整洁，无任何多余的碳膜渣残留。

特性：

      技术制造，超平的碳膜可使待观察颗粒分散更均匀，为冰层厚度均匀打下良好的基础。膜上的花样孔采用深紫外光刻印制技术，确保了孔大小的准确（准确至微米级别）；同时确保了孔型的连续性，精细的制造技术*消除了多于的碳和碳膜孔产生的边角料。

应用：

      C-flat™有孔碳支持膜对利用低温透射电镜获得高分辨率的数据信息提供了非常理想的样品支撑。主要应用于以下两个方面：

1．  低温电子断层扫描术（cryo-ET）和单一微粒分析（single particle analysis，SPA）

大量的科学研究人员报道，C-flat™超平的膜表面使得研究对象更均匀的分布膜上孔区域，膜上冰层厚度的均一性也大大提高。与其它有孔碳膜相比，蕞佳的微粒分布特性可以采集到蕞理想的数据信息。膜上标准的孔大小为2µm，同时提供的还有其它大小的孔径，也可以根据你的需要定制，因此C-flat™可在普通放大倍率下进行TEM定量分析。

2．  自动化低温透射电镜（automated TEM）

C-flat™分析位点的规则排列（以及微粒分布均匀和冰层厚的均一），可以使用Leginon软件进行信息的自动控制和采集，两者可以兼容。（Leginon是用于进行自动控制和采集TEM图像的软件系统，这个软件通常用于SPA（Single Particle Analysis）应用，建立纳米量级的三维模型。Leginon软件可以使得TEM用户在计量很低的情况下，采集大量的高质量的大分子图像，系统使用数据库自动更跟踪采集的图像、图像参数、和同一目标在不同尺度下的关系。系统因此可以帮助提高用于分析的数据量。）

      我们提供的超平有孔碳支持膜所用的载网只有200目和400目两种。选购产品时注意产品的型号，不同型号的产品的图样见下：

1.孔径1.2μm,孔距1.3μm,型号：CF-1.2/1.3-2C，CF-1.2/1.3-4C,图样见下：

1500x （45°）                  3000x                  10000x                   20000x

2.孔径2.0μm,孔距1.0μm,型号：CF-2/1-2C，CF-2/1-4C,图样见下：

1500x （45°）                  3000x                  10000x                   20000x

3.孔径2.0μm,孔距2.0μm,型号：CF-2/2-2C，CF-2/2-4C,图样见下：

1500x （45°）                  3000x                  10000x                   20000x

4.孔径2.0μm,孔距4.0μm,型号：CF-2/4-2C，CF-2/4-4C,图样见下：

1500x （45°）                  3000x                  10000x                   20000x

5.孔径4.0μm,孔距2.0μm,型号：CF-4/2-2C，CF-4/2-4C,图样见下：

1500x （45°）                  3000x                  10000x                   20000x

6.孔径1.0μm,孔距1.0μm,型号：CF-1/1-2C，CF-1/1-4C,图样见下：

1500x （45°）                  3000x                  10000x                   20000x

7.孔径和孔距多样（multi hole and space）,型号：CF-MH-2C，CF-MH-4C,图样见下：

1500x （45°）                  3000x                  10000x                   20000x

产品（C-flat™ Holey Carbon Grids for TEM）订购信息：

超平有孔碳支持膜C-flat™（低温透射电镜用支持膜）